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龙图腾网获悉万润科技股份有限公司申请的专利电子元件测试装置及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115728567B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111012546.5，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权电子元件测试装置及测试方法是由纪建兆;卢昱呈;林芳旭设计研发完成，并于2021-08-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本电子元件测试装置及测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种电子元件测试装置及测试方法，该电子元件测试装置，包括：一机台，其上设有一机台台面；一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行间歇旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中，该检查单元设有可进行电容的绝缘阻抗检查的一第一检查单元，该检查单元更设有可进行电容的电容量、损耗或品质因子检查的一第二检查单元；该第二检查单元设有切换电路，该切换电路设有干式接点的开关切换器作为切换器；借此使该电子元件测试装置更适合进行电子元件测试。

本发明授权电子元件测试装置及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种电子元件测试装置，包括： 一机台，其上设有一机台台面； 一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行间歇旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中， 该检查单元设有可进行电容的绝缘阻抗检查的一第一检查单元，该第一检查单元设有一第一上端子模组、及对应设于各该第一上端子模组下方的第一下端子模组，该第一上端子模组设有多个第一上端子；该第一下端子模组设有多个第一下端子； 该检查单元更设有可进行电容的电容量、损耗或品质因子检查的一第二检查单元，该第二检查单元设有一第二上端子模组、及对应设于该第二上端子模组下方的一第二下端子模组；该第二上端子模组设有相隔间距直线并列的多个第二上端子；该第二下端子模组设有多个第二下端子； 该第二检查单元设有切换电路，该切换电路设有干式接点的开关切换器作为切换器器；该第二检查单元的该第二上端子模组及该第二下端子模组分别各设有该切换电路； 该第一检查单元的该第一上端子模组设于一第一座架，该第二检查单元的该第二上端子模组设于一第二座架，该第一座架与该第二座架相隔间距互不连动。

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