山东阅芯电子科技有限公司崔雷获国家专利权
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龙图腾网获悉山东阅芯电子科技有限公司申请的专利适用于外形对称式半导体模块的测试治具及测试设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224095948U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520465186.1，技术领域涉及：G01R31/26；该实用新型适用于外形对称式半导体模块的测试治具及测试设备是由崔雷;李振禹;廖辰玮设计研发完成，并于2025-03-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本适用于外形对称式半导体模块的测试治具及测试设备在说明书摘要公布了：本实用新型提供一种适用于外形对称式半导体模块的测试治具及测试设备，该测试治具包括测试基板、测试组件及辅助测试组件。测试基板内集成有测试电路及用于触发测试电路关断的辅助功能层。测试组件及辅助测试组件均连接于测试基板上，且两者之间电性隔离。测试组件包括与测试电路连接的多个测试探针。多个测试探针与半导体模块的多个引脚对应设置。辅助测试组件与辅助功能层电性连接。在半导体模块正置时，每个引脚与对应的测试探针接触，测试电路导通。在半导体模块反置时，至少一个引脚与测试组件接触，测试电路断开。该测试冶具可以在半导体模块反置时自动停止测试，避免反接而导致的测试误差或测试事故，有助于降低测试成本及提高测试效率。
本实用新型适用于外形对称式半导体模块的测试治具及测试设备在权利要求书中公布了：1.一种适用于外形对称式半导体模块的测试治具，其特征在于：所述测试治具包括测试基板、测试组件及辅助测试组件，所述测试基板内集成有用于对所述半导体模块进行预设测试的测试电路，以及用于触发测试电路关断的辅助功能层；其中， 所述测试组件连接于所述测试基板上，且与所述测试电路电性连接，所述测试组件包括多个测试探针，多个所述测试探针配置为与所述半导体模块中的多个引脚分别对应设置； 所述辅助测试组件连接于所述测试基板上，且与所述辅助功能层电性连接，所述辅助测试组件与所述测试组件电性隔离； 所述半导体模块正置时，每个所述引脚与对应的所述测试探针接触，所述测试电路导通；所述半导体模块反置时，至少一个所述引脚与所述辅助测试组件接触，以与所述辅助功能层电性连接，所述测试电路关断。
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