华润微集成电路(无锡)有限公司张敏获国家专利权
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龙图腾网获悉华润微集成电路(无锡)有限公司申请的专利电路接口测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116776795B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210227318.8,技术领域涉及:G06F30/333;该发明授权电路接口测试方法是由张敏;华纯;冯雪阳;高庆;曹旺设计研发完成,并于2022-03-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本电路接口测试方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种电路接口测试方法,其中,包括:1电路结构进入上电复位状态,并设置预设数量窗口期;2电路结构进入第一窗口期,芯片等待接收与预设接口的特性相匹配的功能时序信号;3芯片进一步判断是否接收到相关特性的功能时序信号,如果是,则芯片直接进入当前该预设接口的功能模式;否则,进入步骤4;4各个芯片引脚在当前窗口期未接收到相关特性的功能时序信号,则电路结构返回步骤2并进入下一窗口期进行测试处理,直到完成所有预设数量窗口期的遍历,并进入步骤5;5芯片进入正常工作状态。采用了本发明的该电路接口测试方法,能适应不同场景的应用要求,减少了封装费用,并提高了封装成功率。
本发明授权电路接口测试方法在权利要求书中公布了:1.一种电路接口测试方法,其特征在于,所述的方法包括以下步骤: 1电路结构进入上电复位状态,并根据芯片引脚数量以及各个预设接口所需的引脚数量设置预设数量窗口期; 2所述的电路结构进入第一窗口期,芯片自动将所述的各个预设接口分配到不同的芯片引脚上,并分别等待接收与所述的预设接口的特性相匹配的功能时序信号; 3所述的芯片判断各个所述的芯片引脚是否接收到相关特性的所述的功能时序信号,如果是,则所述的芯片直接进入当前该预设接口的功能模式,完成相应的功能;否则,进入步骤4; 4各个所述的芯片引脚在当前窗口期未接收到相关特性的所述的功能时序信号,则所述的电路结构返回步骤2并进入下一窗口期进行测试处理,直到完成所有所述的预设数量窗口期的遍历,并进入步骤5; 5所述的芯片进入正常工作状态; 所述的各个预设接口包括: 测试接口、烧录接口以及调试接口; 所述的电路结构按照以下规则设置所述的预设数量窗口期: 其中,A为当前芯片的引脚数量,B为固定引脚,固定引脚包括电源引脚、接地引脚以及模拟引脚,C为当前接口所需的管脚数量。
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