山东大学何东欣获国家专利权
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龙图腾网获悉山东大学申请的专利基于Burst电路的封装材料空间电荷采样方法与系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121633639B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202610154791.6,技术领域涉及:G01R29/24;该发明授权基于Burst电路的封装材料空间电荷采样方法与系统是由何东欣;郑晓彬;李清泉;刘洪顺;任富强;李和兴;张聪设计研发完成,并于2026-02-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于Burst电路的封装材料空间电荷采样方法与系统在说明书摘要公布了:本发明涉及电力设备绝缘检测技术领域,具体为一种基于Burst电路的封装材料空间电荷采样方法与系统,所述方法包括构建Burst脉冲电源,并基于极化电压极性反转时触发Burst脉冲电源向封装材料试样发射高频测试脉冲序列;同步采集该测试脉冲激发下封装材料试样产生的原始空间电荷波形及对应的瞬时极化电压;对采集的原始空间电荷波形进行波形恢复处理,应用时变恢复矩阵对原始空间电荷波形进行处理,得到高保真空间电荷分布波形;将波形恢复处理的高保真空间电荷分布波形进行平均降噪处理,输出得到封装材料的空间电荷分布数据。能够完整捕捉极性反转过程中电荷快速注入、迁移与消散的动态演化规律。
本发明授权基于Burst电路的封装材料空间电荷采样方法与系统在权利要求书中公布了:1.一种基于Burst电路的封装材料空间电荷采样方法,其特征在于,包括: 构建Burst脉冲电源,并基于极化电压极性反转时触发Burst脉冲电源向封装材料试样发射高频测试脉冲序列; 将每个测试脉冲的上升沿作为触发信号,同步采集该测试脉冲激发下封装材料试样产生的原始空间电荷波形及对应的瞬时极化电压; 对采集的原始空间电荷波形进行波形恢复处理,所述波形恢复处理包括衰减色散补偿、几何扩散补偿、温度-声速动态映射补偿与反卷积去过冲补偿;基于波形恢复处理分别确定衰减色散补偿矩阵、几何扩散补偿矩阵与反卷积补偿矩阵,并根据温度-声速动态映射补偿确定声速场,与衰减色散补偿矩阵、几何扩散补偿矩阵与反卷积补偿矩阵合成时变恢复矩阵,应用时变恢复矩阵对原始空间电荷波形进行处理,得到高保真空间电荷分布波形; 所述衰减色散补偿基于预标定的声波衰减系数α与色散系数β,构建衰减色散补偿矩阵,其操作具体为: 对信号频率范围[f1,f2]进行N点离散,得到频率向量f=[f1,f2,...,fn]T; 对每个离散频率点fᵢ,基于声波衰减系数αfᵢ与色散系数βfᵢ,以及声波在材料中的传播距离向量r,构建频域衰减核函数为: 其中,j为虚数单位; 根据封装材料试样的厚度,将试样厚度d等分为N个采样单元,对应离散半径rn=j·Δr,Δr=dN; 选取中心频率fc,基于所述频域衰减核函数,构建N×N的对角形式的衰减色散补偿矩阵为: 其中,矩阵元素表示为; 通过引入时变特性,基于实时温度场更新声波衰减系数,得到时变衰减色散补偿矩阵Mattenti; 所述几何扩散补偿根据封装材料试样的实际结构,构建对应的扩散衰减补偿矩阵,包括: 若封装材料试样为同轴结构,其补偿矩阵为: 其中,a为封装材料试样内半径,ri为离散采样点半径,N为原始电信号的总采样点数; 若封装材料试样为平板结构,补偿矩阵: 其中,d为平板试样的厚度方向采样距离; 将波形恢复处理的高保真空间电荷分布波形进行平均降噪处理,输出得到封装材料的空间电荷分布数据。
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