中国工程物理研究院核物理与化学研究所郑健获国家专利权
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龙图腾网获悉中国工程物理研究院核物理与化学研究所申请的专利一种用于辐照后微观结构性能分析检测的小样品中子辐照方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119595385B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411603700.X，技术领域涉及：G01N1/28；该发明授权一种用于辐照后微观结构性能分析检测的小样品中子辐照方法是由郑健;申华海;周韦;戚麟;张晓龙;闫占峰;王浩;田继挺;冯琦杰;刘晓;刘显坤;高产;张松宝;王冠博设计研发完成，并于2024-11-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于辐照后微观结构性能分析检测的小样品中子辐照方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于辐照后微观结构性能分析检测的小样品中子辐照方法，包括以下步骤：a.采用机械加工方法在块状低活化单晶材料上加工出凹槽；b.将待辐照的材料加工成与前述凹槽尺寸相匹配的小样品；c.将待辐照的小样品装载至块状低活化单晶材料的凹槽内；d.根据辐照目标，设计加工辐照盒，将已装载待辐照样品的块状低活化单晶材料装载至辐照盒内；e.将辐照盒转运至反应堆内开展中子辐照；f.完成辐照后，在热室内将辐照盒解体，取出装载有辐照后样品的块状低活化单晶材料，暂存冷却；g.将完成冷却的装载有辐照后样品的块状低活化单晶材料转运出热室，开展后续辐照后分析检测。本发明具有效率高、经济性好、危害较小、环保性优等特点。在材料辐照工程考核、辐照效应基础研究等领域具有较高的经济价值和良好的应用前景。
本发明授权一种用于辐照后微观结构性能分析检测的小样品中子辐照方法在权利要求书中公布了：1.一种用于辐照后微观结构性能分析检测的小样品中子辐照方法，其特征在于， 包括以下步骤： a.在块状低活化单晶材料上加工出凹槽； b.将待辐照的材料加工成与所述凹槽横截面尺寸相匹配的小样品； c.将所述小样品转载至所述凹槽内； d.将已装载所述小样品的所述块状低活化单晶材料装载至辐照盒内； e.将所述辐照盒转运至反应堆内辐照孔道开展中子辐照； f.完成辐照后，在热室内将所述辐照盒解体，取出所述块状低活化单晶材料，暂存冷却； g.将完成冷却的所述块状低活化单晶材料转运出热室，开展后续辐照后分析检测。
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