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龙图腾网获悉中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利一种基于双色单分子定位的分子级分辨率显微术方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119827469B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510110485.8，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权一种基于双色单分子定位的分子级分辨率显微术方法是由付国;聂雨涵设计研发完成，并于2025-01-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于双色单分子定位的分子级分辨率显微术方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于双色单分子定位的分子级分辨率显微术MITIMolecular‑levelImagingbasedonTwo‑colorImaging。本发明通过使用双色成像的方法，将原本不能区分的荧光分子的定位点成功的通过双色的方法，将不同的定位点集合分配到对应的荧光通道中成功区分，进而通过再次拟合荧光分子定位点的分布，得到荧光分子定位点分布的中心位置和再次提高的定位精度，从而提高分辨率。本发明能够最高实现2nm的空间分辨率，为分子尺度的生物学结构和相互作用过程的解析提供了重要手段。

本发明授权一种基于双色单分子定位的分子级分辨率显微术方法在权利要求书中公布了：1.一种基于双色单分子定位的分子级分辨率显微术方法，其特征在于：包括如下步骤： S1.双色标记目标物：使用两种不同的荧光分子对目标物进行标记，所述两种荧光分子具有不同的激发和发射波段，且适用于单分子定位显微术； S2.双色单分子定位超分辨成像：利用配备至少四个波长激光器的超分辨光学显微镜，对双色标记的样品进行成像，收集两个荧光分子的信号，成像方式包括双通道并行成像或序列成像； S3.MITI实现方法：通过标准的单分子定位显微术数据分析方法，获取荧光分子的定位信息，包括定位点的坐标、荧光分子的强度、定位精度，利用双色成像区分相邻荧光分子的定位位置信息，分别拟合两个荧光分子通道的荧光分子位置信息，得到荧光分子的中心位置，实现分子级分辨率的MITI成像，并通过拟合高斯分布的衍射受限图像点扩散函数优化单分子点的定位精度； 所述步骤S3中所述的定位信息还包括荧光分子的定位点的分布信息，通过高斯函数拟合荧光分子定位点的位置分布，使用最大似然估计法得到MITI图像对应定位点集的中心坐标； 所述的定位精度优化方法包括采用最小二乘法拟合高斯分布的衍射受限图像点扩散函数，定位精度满足的关系，其中K为同一荧光分子的定位点总数。

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