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龙图腾网获悉广东茂名农林科技职业学院申请的专利一种基于空间计算的稻田苗期杂草位置检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120612621B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510767465.8，技术领域涉及：G06V20/13；该发明授权一种基于空间计算的稻田苗期杂草位置检测方法是由李华锋;董艳清;杨颖;李丹;李岳鑫;李益花;赖双宗设计研发完成，并于2025-06-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于空间计算的稻田苗期杂草位置检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及工业视觉领域，并提供了一种基于空间计算的稻田苗期杂草位置检测方法，通过将第一影像输入至视觉目标检测模型中，得到杂草分布数据，通过第一影像中所有像元的地理坐标和杂草分布数据计算杂草二相分布，根据杂草二相分布生成杂草位置检测结果。所述方法能够精准定位稻田苗期的杂草位置分布，通过融合像元地理坐标与杂草密度数据生成杂草二相分布，有效筛选密集杂草区，并利用不同杂草密度的像元生成分级位置标记结果，从而显著提升杂草识别准确性与位置标记可靠性，为精准除草作业提供高价值靶点信息，降低检测误判与资源消耗。

本发明授权一种基于空间计算的稻田苗期杂草位置检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于空间计算的稻田苗期杂草位置检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 获取稻田区域的遥感影像并记为第一影像； 将第一影像输入至视觉目标检测模型中，得到杂草分布数据； 通过第一影像中所有像元的地理坐标和杂草分布数据计算杂草二相分布； 根据杂草二相分布生成杂草位置检测结果； 通过第一影像中所有像元的地理坐标和杂草分布数据计算杂草二相分布的方法具体为： 以PEi表示N个像元中的第i个像元，同时获取第一影像内的所有像元的地理坐标，以WdPEi表示PEi的杂草密度值；将杂草密度值最高的像元的地理坐标和杂草密度值最低的像元的地理坐标的平均坐标记为第一坐标； 计算PEi与第一坐标之间的距离Di，记Ri=Di×|1-WdPEi÷MinWdPE|，MinWdPE表示最低像元杂草密度值；以PEi的中心为圆心、Ri为半径作圆Clei；如果落在圆Clei的内部的所有像元的杂草密度值的总和高于杂草密度全局平均值，则将PEi记为聚集相像元，否则将PEi记为离散相像元； 将所有聚集相像元和离散相像元记为杂草二相分布；杂草密度全局平均值指N个像元的杂草密度值的平均值；其中，通过仿射地理变换参数转换得到像元的地理坐标； 根据杂草二相分布生成杂草位置检测结果的方法具体为：将聚集相像元在第一影像中的位置标记为第一杂草位置，筛选出离散相像元中的低离散相像元，将低离散相像元在第一影像中的位置标记为第二杂草位置；在第一图像中高亮所有第一杂草位置和第二杂草位置，将高亮后的第一图像记为杂草位置检测结果并输出； 筛选出离散相像元中的低离散相像元的方法具体为：以DPEx表示所有离散相像元中的任意一个离散相像元，记Dpvx为DPEx对应的离散相值；依次计算出所有离散相像元对应的离散相值，将所有离散相像元按其离散相值Dpvx进行升序排序，取排序结果中前50%的离散相像元标记为低离散相像元； 其中，Dpvx的计算方法为：Dpvx=GpM÷k×WdDPEx+GpA，GpM表示杂草密度值最高的聚集相像元的杂草密度值，GpA表示所有聚集相像元的杂草密度值的平均值；WdDPEx为DPEx的杂草密度值，k为离相系数，k的取值设置为区间[0.5,1]内的值。

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