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龙图腾网获悉深圳东昇射频技术有限公司申请的专利毫米波雷达杂散测试的自动化控制方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121578260B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610107702.2，技术领域涉及：G01S7/40；该发明授权毫米波雷达杂散测试的自动化控制方法及系统是由张卫民;何鑫;黄宇宇;徐广义;马引库设计研发完成，并于2026-01-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本毫米波雷达杂散测试的自动化控制方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了毫米波雷达杂散测试的自动化控制方法及系统，涉及电学测量技术领域，该方法包括：在预设频率范围内对毫米波雷达设备进行预扫测试，并同步控制位置定位器，获取不同空间位姿下的杂散辐射测试数据，按照预设杂散信号筛选规则自动识别并生成标记点；根据标记点的频率和空间位姿信息生成终扫测试参数，执行终扫测试；对不同空间位姿下的测试结果进行最大值比较，生成杂散测试数据。本发明解决了现有毫米波雷达杂散测试方法难以全面覆盖不同空间位姿下的杂散辐射特性，测试效率和准确性低的技术问题，达到了通过自动化控制和优化测试流程，全面覆盖不同空间位姿下的杂散辐射特性，提高测试效率和准确性的技术效果。

本发明授权毫米波雷达杂散测试的自动化控制方法及系统在权利要求书中公布了：1.毫米波雷达杂散测试的自动化控制方法，其特征在于，包括： 控制频谱测试设备在预设频率范围内对被测毫米波雷达设备进行预扫测试，在预扫测试过程中同步控制位置定位器按照预设空间位姿序列进行移动，获取对应不同空间位姿下的杂散辐射测试数据； 基于预扫测试得到的所有空间位姿下的杂散辐射测试数据，按照预设的杂散信号筛选规则，自动识别并生成至少一个杂散候选频点作为标记点； 根据所述标记点对应的频率信息及空间位姿信息，自动生成终扫测试参数，并控制所述频谱测试设备对所述标记点执行终扫测试； 在终扫测试过程中，对不同空间位姿下获得的终扫测试结果进行最大值比较处理，生成对应的杂散测试结果数据； 其中，在预扫测试过程中同步控制位置定位器按照预设空间位姿序列进行移动，包括： 设定第一空间位姿遍历规则，所述第一空间位姿遍历规则的遍历顺序为天线频段切换-天线塔高度调整-天线塔极化切换-被测设备摆放面切换-转台水平方向旋转-转台垂直方向旋转； 设定第二空间位姿遍历规则，所述第二空间位姿遍历规则遍历顺序为天线频段切换-天线塔高度调整-天线塔极化切换-被测设备摆放面切换-转台水平方向旋转； 根据测试配置判断是否启用转台； 当启用转台时，控制所述位置定位器按照所述第一空间位姿遍历规则的遍历顺序进行空间位姿序列移动； 当未启用转台时，在控制所述位置定位器按照所述第二空间位姿遍历规则的遍历顺序进行空间位姿序列移动。

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