长春理工大学吴昊宸获国家专利权
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龙图腾网获悉长春理工大学申请的专利基于光电效应的超细粒子识别计数方法、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121595429B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610117065.7，技术领域涉及：G01N15/1429；该发明授权基于光电效应的超细粒子识别计数方法、设备及存储介质是由吴昊宸;焦润怡;熊开明;范博威;张鹏设计研发完成，并于2026-01-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于光电效应的超细粒子识别计数方法、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及粒子检测领域，具体提供基于光电效应的超细粒子识别计数方法、设备及存储介质，包括：获取待测粒子流通过光电检测阵列产生的光电信号；提取光电信号的原始特征，结合时域分解和频域变换构建初始信号特征矩阵；对初始信号特征矩阵执行多尺度张量分解和信号分量筛选，生成增强光电信号；基于增强光电信号确定偏振相干角度区间，提取偏振能量特征，分析偏振态转换特性，建立三维偏振特征指纹；对增强光电信号进行自适应分段处理，提取振荡特征谱，并结合三维偏振特征指纹得到特征关联矩阵；基于特征关联矩阵构建多维分类准则，据此确定最终的粒子计数结果。提高了超细粒子计数的精度和识别能力，尤其适用于复杂环境中高密度微纳粒子检测。
本发明授权基于光电效应的超细粒子识别计数方法、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种基于光电效应的超细粒子识别计数方法，其特征在于，包括： S100、获取待测粒子流通过光电检测阵列产生的光电信号，所述光电检测阵列具有多个检测通道； S200、提取各个所述检测通道内光电信号的原始特征，并结合时域分解和频域变换构建初始信号特征矩阵； S300、对所述初始信号特征矩阵执行多尺度张量分解和信号分量筛选，结合波前传播特性的检测通道协同补偿，生成增强光电信号； S400、基于所述增强光电信号确定偏振相干角度区间，在所述偏振相干角度区间提取偏振能量特征，分析偏振态转换特性，建立三维偏振特征指纹； S500、对增强光电信号进行自适应分段处理，提取振荡特征谱； S600、将所述振荡特征谱与所述三维偏振特征指纹进行深度关联匹配，得到特征关联矩阵； S700、基于所述特征关联矩阵构建多维分类准则，并据此对待测粒子进行特征分离，确定最终的粒子计数结果。
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