长春理工大学;珩辉光电测量技术(吉林)有限公司王大帅获国家专利权
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龙图腾网获悉长春理工大学;珩辉光电测量技术(吉林)有限公司申请的专利一种干涉系统的光学相位控制方法和系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121635052B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202610163459.6,技术领域涉及:G05B19/042;该发明授权一种干涉系统的光学相位控制方法和系统是由王大帅;邵伟俊;南航;张鹏;常帅;佟首峰设计研发完成,并于2026-02-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种干涉系统的光学相位控制方法和系统在说明书摘要公布了:一种干涉系统的光学相位控制方法和系统,涉及光学相位技术领域,缓解了现有光学相位的控制技术存在控制时效性差、误差较大、难以兼顾收敛速度与稳态抖动的问题。一种光学相位控制方法,根据光学相位的目标参考值初始化控制量和控制参数;初始化扰动次数,块相关量;向相位致动器输入驱动电压,采集检测电压信号;更新误差量、代价量和所述扰动幅度;根据误差量判断控制参数是否为当前控制参数;更新所述控制量un,完成对光学相位的控制。一种光学相位控制系统,包括微控制器MCU,DAC数模转换模块,相位致动器,光学检测模块和ADC模数转换模块。本发明适用于光纤干涉仪、相位调制补偿、相干探测等相位稳定领域。
本发明授权一种干涉系统的光学相位控制方法和系统在权利要求书中公布了:1.一种干涉系统的光学相位控制方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤S01,根据光学相位的目标参考值Vref初始化控制量un和控制参数; 所述控制参数包括粗控制参数和细控制参数; 所述粗控制参数包括扰动幅度δk和块长M;所述细控制参数包括扰动幅度δ’和块长M’; 步骤S02,初始化扰动次数m=0,块相关量S=0; 步骤S03,向相位致动器输入驱动电压,采集若干个检测电压信号,获得采样序列;基于所述目标参考值Vref和获得的采样序列,更新误差量ek、代价量和所述扰动幅度δk; 所述驱动电压通过 获得,其中,; 步骤S04,基于当前误差量ek选择控制参数, 若,则选择所述细控制参数作为选择控制参数; 若,则选择所述粗控制参数作为选择控制参数; 其中,T1为细误差阈值,T2为粗误差阈值,T1T2; 若当前控制参数与选择的控制参数不同,则将当前控制参数替换为选择的控制参数,则执行步骤S02; 否则,进行所述扰动次数m++,块相关量;返回执行步骤S03,直到mM,执行步骤S05; 步骤S05,若在前面连续的M次循环中,误差量ek持续小于误差阈值,且控制参数持续为细控制参数,则完成对光学相位的控制; 否则,基于当前误差量ek、块相关量、块长M和所述扰动幅度δk对所述控制量un进行更新,返回执行步骤S02,进行下一次更新。
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