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龙图腾网获悉北京航空航天大学;北京航空航天大学宁波创新研究院申请的专利低频弱磁环境下高导磁材料磁特性测试装置和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114578273B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210173963.6，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权低频弱磁环境下高导磁材料磁特性测试装置和方法是由徐学平;孙津济;周伟勇;任建伊设计研发完成，并于2022-02-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本低频弱磁环境下高导磁材料磁特性测试装置和方法在说明书摘要公布了：本发明涉及低频弱磁环境下高导磁材料磁特性测试装置，包括：线圈组、磁特性测试仪、磁屏蔽筒以及上位机；所述线圈组缠绕在被测样件上并与磁特性测试仪相连，缠绕有线圈组的被测样件放置在磁屏蔽筒内；所述磁屏蔽筒为被测样件提供弱磁环境；所述磁特性测试仪，用于对所述线圈组提供励磁电流以及检测所述被测样件的感应电压，并将测得数据传输至上位机；所述上位机，用于获取磁特性测试仪测试出的数据并绘制得出磁化曲线。本发明的技术方案解决了现在磁性材料磁特性测试装置无法获取高导磁材料低频弱磁环境下的磁导率问题，从而提高磁屏蔽装置理论计算和仿真计算的精度和准确度，减小设计值与实际值的误差。

本发明授权低频弱磁环境下高导磁材料磁特性测试装置和方法在权利要求书中公布了：1.低频弱磁环境下高导磁材料磁特性测试装置，其特征在于，所述装置包括：线圈组、磁特性测试仪、磁屏蔽筒以及上位机； 所述线圈组缠绕在被测样件上并通过测试线与磁特性测试仪相连，缠绕有线圈组的被测样件放置在磁屏蔽筒内；所述被测样件为环状，测试样件通过切割制成环形薄片，去除毛刺并进行热处理；所述被测样件每次测试前都进行消磁处理； 所述线圈组包括：励磁绕组线圈和感应绕组线圈，所述励磁绕组线圈和感应绕组线圈缠绕在被测样件的整个周长上；所述感应绕组线圈通过测试线与功率分析仪通相连，所述励磁绕组线圈通过测试线与信号发生器和功率放大器相连；所述磁屏蔽筒，用于对放置在磁屏蔽筒内的被测样件提供弱磁环境、屏蔽外界干扰磁场；所述磁屏蔽筒包括：样件平台、铝合金屏蔽层、依次套设的多个坡莫合金屏蔽层、层间垫板、支架；所述样件平台设置在磁屏蔽筒内部，用于放置被测样件；所述坡莫合金屏蔽层，用于屏蔽外界干扰磁场；所述铝合金屏蔽层设置于所述坡莫合金屏蔽层外部，用于对交流磁场进行屏蔽；所述层间垫板设置在坡莫合金屏蔽层之间以及坡莫合金屏蔽层与铝合金屏蔽层之间，用于对坡莫合金屏蔽层之间以及铝合金屏蔽层与坡莫合金屏蔽层进行支撑；所述支架设置于铝合金屏蔽层底部，用于对磁屏蔽筒进行支撑和固定； 样品平台滑动安装在磁屏蔽筒内，便于将样品平台从磁屏蔽筒内抽出并将设置有线圈组的被测样件放置在样品平台上，同时便于将样品平台推入磁屏蔽筒内； 所述磁特性测试仪，用于对所述线圈组提供励磁电流以及检测所述被测样件的感应电压，并将测得数据传输至上位机；所述磁特性测试仪包括：信号发生器、功率放大器、功率分析仪；所述功率分析仪通过测试线与感应绕组线圈相连，用于检测被测样件的感应电压；所述信号发生器和功率放大器相连通过测试线与励磁绕组线圈相连，用于为励磁绕组线圈施加交变励磁电流，测试时通过调整励增加磁电流，得到不同磁场强度下和磁场强度磁通密度之间的关系，上位机通过磁特性测试装置测得数据绘制得出磁化曲线； 所述上位机，用于获取磁特性测试仪测试出的数据并绘制得出磁化曲线； 被测样件的尺寸要求如以下计算式所示： 式中：为被测样件的横截面积；为被测样件的外径；为被测样件内径；为被测样件5高度； 所述被测样件尺寸和绕组匝数根据测试原理而定，计算式如下： 励磁磁场强度计算式如下： 式中：为励磁绕组线圈匝数,为励磁电流,为样件平均磁路长度； 感应磁通密度计算式如为： 式中，为感应绕组匝数；为电流频率；感应电压整流后的平均值； 对被测样件上的励磁线圈的匝数进行优化，使其与功率放大器的输出阻抗相匹配：优化后的励磁线圈的匝数计算式如下： 式中：为电源输出阻抗；为励磁电流角频率；为励磁绕组有效电感；为空气磁导率；为样件相对磁导率。

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