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龙图腾网获悉浙江大学;杭州悦芯微电子有限公司申请的专利应用于高精度逐次逼近型ADC的双无源噪声整形校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115499007B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211148821.0，技术领域涉及：H03M1/10；该发明授权应用于高精度逐次逼近型ADC的双无源噪声整形校正方法是由张啸蔚;何乐年;奚剑雄;钱福悦;施政学设计研发完成，并于2022-09-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本应用于高精度逐次逼近型ADC的双无源噪声整形校正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种应用于高精度逐次逼近型ADC的双无源噪声整形校正方法，其将噪声整形技术与校正算法结合，在芯片上电后的一段时间内，通过有限的校正DAC电容阵列和噪声整形技术，可以获得更高精度的SARADC电容失配和比较器失调电压的校正编码。在正常工作模式中，本发明再次结合噪声整形技术，将校正编码以模拟量的形式添加到主DAC中，减少了非理想因素带来的影响。本发明复用采样积分电容，结构简单，以较小的功耗代价，明显改善校正的准确性，并且增加整体的信噪比和无杂散动态范围，使SARADC整体效率提升。

本发明授权应用于高精度逐次逼近型ADC的双无源噪声整形校正方法在权利要求书中公布了：1.一种应用于高精度逐次逼近型ADC的双无源噪声整形校正方法，其特征在于：首先对逐次逼近型ADC进行结构改造，将其中双端输入比较器改造成四端输入比较器，并在数字模拟转换器中的主DAC基础上增加一个校正DAC和两对采样积分电容；所述校正方法包括： 校正阶段：通过数字模拟转换器内相应的开关切换获得比较器的失调电压编码和主DAC中每位电容的失配编码，在此过程中系统每完成一次比较器失调电压的转换或一位电容失配的转换，都需要对转换之后产生的余量电压经采样、积分、比例操作后的结果与下次转换时比较器的输入信号相加，以实现前馈无源噪声整形；然后将比较器的失调电压编码和主DAC中每位电容的失配编码进行综合计算，得到比较器失调电压的校正编码和主DAC中每位电容失配的校正编码； 正常工作阶段：将对应的校正编码添加到校正DAC中，以实现失调补偿和失配补偿，且在系统每完成一次完整的模数转换之后，通过复用部分采样积分电容直接对模数转换后产生的余量电压进行积分操作，再将积分结果通过比例操作后与比较器原输入信号相加，实现无源噪声整形； 改造前的数字模拟转换器包括主DAC，其由差分结构的P极和N极两排电容阵列组成，改造后的数字模拟转换器增加了一个校正DAC，校正DAC的结构与主DAC相同，校正DAC中P极和N极电容阵列的上极板通过桥电容分别与主DAC中P极和N极电容阵列的上极板并联，同时在此基础上增加了两对采样积分电容CC,P和CC,N以及CW,P和CW,N，其中CC,P和CC,N在校正阶段承担采样和积分功能并在正常工作阶段承担采样功能，而CW,P和CW,N仅在正常工作阶段承担积分功能；主DAC中电容阵列的位数为n+1，校正DAC中电容阵列的位数为m+1，n为逐次逼近型ADC的位数，m为自设定的自然数。

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