杭州安脉盛智能技术有限公司何铭仪获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州安脉盛智能技术有限公司申请的专利一种产品图像缺陷检测方法、系统、装置及介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115526885B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211302404.7,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权一种产品图像缺陷检测方法、系统、装置及介质是由何铭仪;王海龙;许江华;吴婕;倪军设计研发完成,并于2022-10-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种产品图像缺陷检测方法、系统、装置及介质在说明书摘要公布了:本申请公开了一种产品图像缺陷检测方法、系统、装置及介质,主要应用于产品检测领域,该方法包括:获取待检测产品对应的点云图像,根据点云图像对应的点云信息获取点云轮廓线,根据多项式拟合方式对点云轮廓线进行拟合得到对应的拟合轮廓线,通过两轮廓线进行差分处理,根据差分处理的结果判断产品是否含有缺陷。通过上述方法,能够单通过一个差分处理的结果反应所述产品是否含有缺陷,避免将产品的各特征与分别设置的各类阈值进行比较,有效地提高了产品检测的速度,减少了对产品的检测时间,提高了检测效率;本申请还提供的产品图像缺陷检测系统、装置及介质与上述方法对应,具有相同的有益效果。
本发明授权一种产品图像缺陷检测方法、系统、装置及介质在权利要求书中公布了:1.一种产品图像缺陷检测方法,其特征在于,包括: 获取图像采集设备采集的待检测产品的点云图像,其中所述点云图像包括各点的几何坐标、所述几何坐标对应的颜色信息或者反射强度信息; 根据所述点云图像对应的点云信息获取所述点云图像对应的点云轮廓线; 通过多项式拟合方式对所述点云轮廓线进行拟合得到拟合轮廓线; 对所述拟合轮廓线与所述点云轮廓线进行差分处理; 根据所述差分处理的结果判断所述产品是否含有缺陷; 其中,所述通过多项式拟合方式对所述点云轮廓线进行拟合得到拟合轮廓线包括: 对所述点云轮廓线进行求导,并获取求导结果中导数值最大的坐标点; 根据所述坐标点将所述点云轮廓线分为前一部分和后一部分,并从所述前一部分获取第一预设数量的第一点云高度数据,从所述后一部分获取第二预设数量的第二点云高度数据; 通过所述第一点云高度数据和所述第二点云高度数据与一次多项式拟合公式获取对应的第一拟合直线和第二拟合直线; 对所述点云轮廓线与所述第一拟合直线进行差分处理,获取所述差分处理后差分值大于预设阈值的第一个点的第一坐标; 对所述点云轮廓线与所述第二拟合直线进行差分处理,获取所述差分处理后差分值大于所述预设阈值的第一个点的第二坐标; 将所述点云轮廓线上的所述第一坐标与所述第二坐标以及所述第一坐标与所述第二坐标之间的各点的坐标作为有效数据; 通过所述有效数据与二次多项式拟合公式获取所述拟合轮廓线。
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