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龙图腾网获悉无锡学院申请的专利一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115616765B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211428230.9，技术领域涉及：G02B27/00；该发明授权一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置及方法是由朱硕;汪宗洋;王煜;黄剑翔;边松岩设计研发完成，并于2022-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置及方法在说明书摘要公布了：一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置，包括激光干涉仪、多维调整台、波像差测量组件和平面镜，激光干涉仪放置在光学望远镜的外部用于向光学望远镜的内部发射测试光，以检测多个视场的波像差数据；多维调整台用于调整光学望远镜中光学元件位置、角度，以模拟望远镜成像质量下降的情况；波像差测量组件设置在望远镜的像面处用于测量光学望远镜成像质量下降后的波像差，平面镜用于反射测试光。本发明涉及一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试方法，通过对比模拟像质下降时和校正时光学元件的位移量和转动角度判断主动光学校正系统的校正精度，对比模拟像质下降前和校正时后的波像差，判断校正后的像质是否达到模拟像质下降前的像质。

本发明授权一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置，其特征在于，包括激光干涉仪1、多维调整台22、平面镜3和波像差测量组件4，所述激光干涉仪1设置在光学望远镜的外部，用于向光学望远镜的内部发射检测光以检测视场波像差数据；所述多维调整台22位于光学望远镜内部，并且设置在光学元件的背部，用于调整光学元件的位置、角度，模拟光学望远镜成像质量下降；所述波像差测量组件4设置在光学望远镜的像面位置处，用于测量光学望远镜成像质量下降后的波像差；所述平面镜3设置在望远镜的外部，所述平面镜3的反射面与光学望远镜中主镜23反射测试光的方向相对； 所述的望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置的测试方法，包括以下步骤： S1：通过激光干涉仪1检测光学望远镜视场的波像差数据； S2：改变光学望远镜中光学元件的位置和角度，模拟光学望远镜像质下降的情况，记录下光学元件的位移量及转动角度，通过不同的波前传感器41在像面位置处测试不同视场的波像差数据； S3：主动光学校正系统根据S2测得的波像差数据对S2中移动或者转动的光学元件校正，并记录下光学元件校正的位移量和转动角度； S4：对比模拟像质下降时和校正时光学元件的位移量和转动角度，判断校正精度； S5：激光干涉仪1在与S1相同位置条件下检测的光学望远镜视场的波像差； S6：对比S1和S5波像差数值，判断校正后的像质是否达到模拟像质下降前的像质。

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