开辉半导体设备(东莞)有限公司贺开慧获国家专利权
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龙图腾网获悉开辉半导体设备(东莞)有限公司申请的专利晶片测试台组件及晶片测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224137325U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520084219.8，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型晶片测试台组件及晶片测试装置是由贺开慧;谢谦;陈伟;陈自豪;吕杰融;谢灿设计研发完成，并于2025-01-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本晶片测试台组件及晶片测试装置在说明书摘要公布了：本申请提供了一种晶片测试台组件及晶片测试装置。其中，测试台组件包括测试载台和覆盖件，测试载台的上表面用于承载待测试的晶片，所述测试载台由导电材料制成；覆盖件呈环形，其能够被转运并放置于所述测试载台或所述晶片上以覆盖所述晶片的环形边缘且能够与所述测试载台相绝缘。本申请提供的晶片测试台组件及晶片测试装置，在检测时，在部分探针移动至晶片的边缘区域时，探针仅与覆盖件表面接触，能够避免探针与测试载台之间意外形成通路，从而能够保障晶片上晶粒区域在检测时的有效性和准确性。
本实用新型晶片测试台组件及晶片测试装置在权利要求书中公布了：1.一种晶片测试台组件，其特征在于，包括： 测试载台，其上表面用于承载待测试的晶片，所述测试载台由导电材料制成； 呈环形的覆盖件，能够被转运并放置于所述测试载台或所述晶片上以覆盖所述晶片的环形边缘且能够与所述测试载台相绝缘。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人开辉半导体设备(东莞)有限公司，其通讯地址为：523000 广东省东莞市松山湖园区工业南路4号2栋108室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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