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龙图腾网获悉南通华隆微电子股份有限公司申请的专利电子元器件引脚镀层厚度检测与损耗预测系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121434658B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202512000698.8，技术领域涉及：G06F18/20；该发明授权电子元器件引脚镀层厚度检测与损耗预测系统是由郑剑华;苏建国;张元元;孙彬;朱建设计研发完成，并于2025-12-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本电子元器件引脚镀层厚度检测与损耗预测系统在说明书摘要公布了：本发明公开了电子元器件引脚镀层厚度检测与损耗预测系统，涉及电子元器件检测技术领域；该系统由样本筛选模块、涡流实时无损测厚模块、多维度诱因获取模块、损耗与厚度预测模块及偏差计算与预警模块构成；通过对电子元器件进行初始镀层厚度测定，筛选有效样本；采用涡流无损检测技术，获取引脚镀层厚度数据；采集影响镀层损耗的多维度相关参数，并转化为量化诱因指标；基于厚度数据与诱因指标的量化关系构建损耗变化模型，结合诱因指标趋势生成厚度预测值；通过计算理论偏差度，搭配预设阈值进行比对，实现分级预警；本系统兼顾检测的无损性与实时性，全面考量镀层损耗的核心影响因素，提升损耗预测的科学性与准确性，及时识别各类风险。

本发明授权电子元器件引脚镀层厚度检测与损耗预测系统在权利要求书中公布了：1.电子元器件引脚镀层厚度检测与损耗预测系统，其特征在于，包括： 样本筛选模块：用于对同一批次电子元器件进行初始镀层厚度测定并依据取样规则筛选有效样本； 涡流实时无损测厚模块：用于采用涡流无损检测技术，对有效样本在不同使用阶段的引脚镀层厚度进行实时检测，输出实时厚度数据； 多维度诱因获取模块：用于同步采集影响镀层损耗的多维度参数，并通过计算得出多维度诱因指标； 所述多维度诱因指标包括温度差异值、环境腐蚀程度指标及计算量差异值； 损耗与厚度预测模块：基于厚度数据与多维度诱因指标之间的量化关系构建厚度损耗变化模型并生成厚度预测值； 所述厚度预测值的生成先进行损耗预测，具体通过前三个时间段的多维度诱因指标趋势外推获取预测诱因指标，常规场景采用线性外推法，连续两个相邻时段的诱因指标增长率均≥20%时采用指数平滑法，控制预测诱因指标与最近一个时间段实际值的偏差≤30%，再将预测诱因指标代入厚度损耗变化模型计算得出预测损耗量，最后以第i个时间段的实时厚度为基准，减去该预测损耗量，得到第i+1个时间段的厚度预测值； 偏差计算与预警模块：基于厚度预测值，通过计算得出理论偏差度，与多维度预警阈值进行比对并输出预警信息。

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