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龙图腾网获悉华夏芯智慧光子科技(北京)有限公司申请的专利一种光模块自动化标定系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121485811B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610013182.9，技术领域涉及：H04B10/079；该发明授权一种光模块自动化标定系统及方法是由武春秀;张立昆;胡兴设计研发完成，并于2026-01-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光模块自动化标定系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种光模块自动化标定系统及方法，属于光通信技术领域，所述系统包括：控制单元，与测试信号生成单元、光连接单元和测试信号处理单元通信连接；光连接单元包括通过光信号连接的光路选择器和分光器；测试信号生成单元包括顺序连接的误码仪和可插拔待测光模块；测试信号处理单元采集光测试信号并进行数据处理得到光测试数据；控制单元基于所述光测试数据判断测试光是否符合要求，如果符合则结束定标，如果不符合则修改光模块TAP参数后重新下发给光模块，直至光测试数据符合要求或达到最大迭代次数后退出标定。本发明能够实现高精度、‌高效率TDECQ定标，尤其适用于批量生产场景，降低人力成本，提升光模块的整体质量稳定性。

本发明授权一种光模块自动化标定系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种光模块自动化标定方法，其特征在于： 所述光模块自动化标定方法，应用于光模块自动化标定系统中，所述光模块自动化标定系统包括： 控制单元，与测试信号生成单元、光连接单元和测试信号处理单元建立稳定通信连接； 光连接单元，用于接收来自测试信号生成单元的光测试信号，向测试信号处理单元输出光测试信号；光连接单元包括通过光信号连接的光路选择器和分光器；其中，光路选择器实现待测通道选择；分光器用于测试的信号的分光处理，用于时钟恢复和测试； 测试信号生成单元，包括顺序连接的误码仪和可插拔待测光模块；误码仪与可插拔待测光模块连接，用于向可插拔待测光模块输出电数据测试信号；可插拔待测光模块与控制单元通信连接，与光路选择器通过光信号连接，用于生成并输出光测试信号； 测试信号处理单元，用于采集光测试信号并进行数据处理，得到光测试数据，将光测试数据输出给控制单元；所述光测试数据包括光功率OMA、消光比ER和TDECQ值； 时钟恢复器CDR，接收来自分光器的光测试信号并恢复出基准时钟信号输出给测试信号处理单元，触发测试信号处理单元采集和测量光测试信号； 所述控制单元控制测试信号生成单元生成预设的基准测试信号；可插拔待测光模块将基准测试信号转化成对应的光测试信号，经光连接单元输出到测试信号处理单元；测试信号处理单元采集所述光测试信号并进行数据处理，得到光测试数据，将光测试数据输出给控制单元； 控制单元基于所述光测试数据判断测试光是否符合要求，如果符合则退出测试，如果不符合则修改光模块TAP参数后重新下发给可插拔待测光模块，直至基于所述光测试数据符合要求或达到最大迭代次数后退出测试； 所述控制单元，包括通信控制模块、数据采集模块和数据处理模块和数据库单元； 其中，通信控制模块用于与其他单元建立通信连接；数据采集模块用于采集来自测试信号处理单元的测试数据；数据处理模块用于数据处理，并向数据库单元存储读取数据；数据库单元包括器件数据集、经验数据集和历史数据集； 所述光模块自动化标定方法，包括以下步骤： S1，将可插拔待测光模块设置为调试状态，提取光模块基础信息、调整范围、步长参数； S2，提取光模块初始TAP参数； S3，测试信号处理单元采集光测试信号，得到补偿TAP参数； S4，将初始TAP参数和补偿TAP参数做卷积运算，对运算结果求整得到第一TAP参数，再根据光模块硬件特性对第一TAP参数进行归一化处理，通过乘以调整系数Q使第一TAP参数各元素符合光模块硬件特性，得到第二TAP参数； S5，向可插拔待测光模块发送参数调整指令从而将第二TAP参数下发给可插拔待测光模块；控制测试信号生成单元保持基准测试信号不变，测试信号处理单元采集光测试信号； S6，测试信号处理单元对采集到的光测试信号进行处理，得到光功率OMA、消光比ER和TDECQ值； S7，基于最大迭代次数Pe进行迭代计算：提取此时的TDECQ值，并与预设的TDECQ目标阈值W进行对比；若此时的TDECQ值≤预设的TDECQ目标阈值W，则进行下一步骤；若此时的TDECQ值预设的TDECQ目标阈值W，则修改TAP参数后返回步骤S2并顺序执行其它步骤，直至TDECQ值≤预设的TDECQ目标阈值，则进行下一步骤；若迭代次数达到最大迭代次数Pe则停止，置调试失败标识并退出调试； S8，数据处理模块接收并记录光功率OMA、消光比ER和TDECQ值和当前的光模块TAP参数； S9，再重复执行Ng次步骤S2至S8，获得多组满足≤预设的TDECQ目标阈值W的参数组合； S10，比较各组参数组合对应的性能指标，所述性能指标包括光功率OMA、消光比ER和TDECQ值，选择综合性能最优的参数组合作为光模块的最优定标参数Ang；将所述最优定标参数Ang中属于光模块的参数通过通信控制模块写入可插拔待测光模块的存储单元中，测试信号处理单元采集可插拔待测光模块在最优定标参数Ang下输出的测试光信号，获取光功率OMA、消光比ER和TDECQ值； S11，提取此时的消光比ER值，若消光比ER满足要求则置调试成功标识；若消光比ER不满足要求则执行Da次光模块参数调整，调整的光模块参数包括Ibias、Imod参数，直至消光比ER满足要求则置调试成功标识，若超过Da次光模块参数调整，消光比ER仍不满足要求则置调试失败标识并退出调试；其中，Ibias为偏置电流；Imod为调制电流； S12，获得调试成功标识时，保存最终的最优定标参数Ang到经验数据集，并通过通信控制模块固化到可插拔待测光模块的存储单元中，完成可插拔待测光模块定标； 光模块TAP参数是光模块DSP中的一组前馈均衡器FFE抽头系数。

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