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龙图腾网获悉上海帆声图像科技有限公司申请的专利一种基于线扫与相位偏折术的超薄玻璃缺陷检测系统及定位方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121540633B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610048663.3，技术领域涉及：G01N21/01；该发明授权一种基于线扫与相位偏折术的超薄玻璃缺陷检测系统及定位方法是由刘锴锋;胡翩奕;郑子谅;叶帅设计研发完成，并于2026-01-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于线扫与相位偏折术的超薄玻璃缺陷检测系统及定位方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于线扫与相位偏折术的超薄玻璃缺陷检测系统及定位方法，其中缺陷检测系统，包括线扫相机模块、无畸变相位偏折术检测模块、高倍率显微镜模块以及中央处理单元；所述线扫相机模块用于采集超薄玻璃的2D灰度图像；所述无畸变相位偏折术检测模块用于采集超薄玻璃的表面高度图；所述高倍率显微镜模块用于对中央处理单元判定的层间缺陷进行深度定位；所述中央处理单元用于接收2D灰度图像和表面高度图，执行图像配准、缺陷分类算法，并向高倍率显微镜模块发送深度定位控制指令，本发明构建了多模块协同工作的检测系统，兼顾检测效率与检测精度，为生产工艺改进提供数据支持。

本发明授权一种基于线扫与相位偏折术的超薄玻璃缺陷检测系统及定位方法在权利要求书中公布了：1.一种基于线扫与相位偏折术的超薄玻璃缺陷检测系统，其特征在于，包括线扫相机模块、无畸变相位偏折术检测模块、高倍率显微镜模块以及中央处理单元；所述线扫相机模块用于采集超薄玻璃的正反面2D灰度图像；所述无畸变相位偏折术检测模块，用于采集超薄玻璃的表面高度图；所述中央处理单元接收2D灰度图像和表面高度图，通过执行正反面图像配准、缺陷分类算法实现缺陷精准定位和形态学分类，以及向高倍率显微镜模块发送深度定位控制指令；所述高倍率显微镜模块用于对中央处理单元判定的超薄玻璃表面和层间缺陷进行深度定位，确定缺陷的具体位置；所述中央处理单元被配置为：对于被分类为层间缺陷的缺陷，控制所述高倍率显微镜模块移动至缺陷坐标位置；控制所述高倍率显微镜模块在深度方向进行扫描与自动对焦，确定缺陷的精确深度位置；结合预存的超薄玻璃多层结构厚度参数，判定所述层间缺陷位于上保护膜与玻璃之间、玻璃与下保护膜之间，或玻璃内部的具体位置，其中无畸变相位偏折术检测模块输出表面高度图的具体过程为：中央处理单元向光源屏幕发送控制指令，光源屏幕投射N步相移的条纹图案；中央处理单元向相机发送采集指令，相机采集经超薄玻璃表面反射的变形条纹，并将变形条纹图像传输至中央处理单元；中央处理单元对变形条纹图像执行相移算法，计算包裹相位；再对包裹相位执行解包裹算法，得到连续相位；中央处理单元根据连续相位与表面梯度的映射关系，计算表面水平梯度和表面垂直梯度；中央处理单元对表面水平梯度和表面垂直梯度执行积分算法，所述积分算法包括傅里叶积分或最小二乘积分，重建得到表面高度图。

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