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龙图腾网获悉西安奥华电子仪器股份有限公司申请的专利一种中子探测器阵列的故障诊断方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121542809B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610048741.X，技术领域涉及：G06F18/24；该发明授权一种中子探测器阵列的故障诊断方法及系统是由程文飞;孙辉;李康;侯宇明;郭晓茂;惠晗设计研发完成，并于2026-01-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种中子探测器阵列的故障诊断方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及地球物理测井技术领域，具体涉及一种中子探测器阵列的故障诊断方法及系统。其方法包括：获取中子测井近、远探测器原始计数率序列及井温曲线，并进行非零钳位、对齐及统计涨落平滑。基于平滑后的远探测器数据和井温，利用含温漂修正项的阵列响应预测模型计算近探测器理论计数率。计算平滑后近探测器数据与理论值的预测残差，并计算平滑后远探测器数据的地层梯度值，结合预测残差、地层梯度值、近探测器数据及权重系数计算故障判别指数，将其与阈值对比，若满足连续性确认条件，则判定探测器阵列故障，并根据井温确定类型。本发明的方案通过引入地层梯度加权，能自动识别地层界面，在保证灵敏度的同时，有效抑制分辨率失配误报。

本发明授权一种中子探测器阵列的故障诊断方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种中子探测器阵列的故障诊断方法，其特征在于，包括： 获取中子测井仪器上传的近探测器原始计数率序列、远探测器原始计数率序列及井下温度曲线，对所述近探测器原始计数率序列和所述远探测器原始计数率序列进行非零钳位处理、深度对齐校正及统计涨落平滑处理，得到平滑后的近探测器数据和远探测器数据； 基于所述平滑后的远探测器数据和井下温度曲线，利用包含温漂修正项的阵列响应预测模型，计算当前深度点下近探测器的理论预测计数率；所述阵列响应预测模型满足表达式： ； 式中，为深度处近探测器的理论预测计数率；为深度处平滑后的远探测器数据；、、为地层响应耦合系数；为参考温度；为温漂抑制常数；为深度处的井下温度； 计算所述平滑后的近探测器数据与所述理论预测计数率之间的预测残差，并计算所述平滑后的远探测器数据的地层梯度值，基于所述预测残差、所述平滑后的近探测器数据、所述地层梯度值及梯度抑制权重系数，计算故障判别指数；地层梯度值满足表达式： ； 式中，为深度处的地层梯度值，和分别为当前深度点和上一深度点平滑后的远探测器数据，为采样深度间隔； 将所述故障判别指数与预设的故障报警阈值进行比较，若所述故障判别指数大于或等于所述故障报警阈值，且满足预设的连续性确认条件，则判定中子探测器阵列存在故障，并根据所述井下温度曲线确定故障类型。

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