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龙图腾网获悉皇虎测试科技(深圳)有限公司申请的专利用于DRAM测试的电气时序与协议分析方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121725857B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610182799.3，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权用于DRAM测试的电气时序与协议分析方法及系统是由赖俊生;杨俊林;丁丽设计研发完成，并于2026-02-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于DRAM测试的电气时序与协议分析方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种用于DRAM测试的电气时序与协议分析方法及系统，属于半导体芯片测试技术领域。该方法包括：通过可配置的时钟延时链或相位插值器生成与被测DRAM接口信号同频的多个等相位采样时钟；通过多个等相位采样时钟对接口信号进行分时采样以在一个单位间隔内获取对应的多个相位采样点；从多个相位采样点中选择信号采样点获取采样信号进行电气特性检查和时序协议检查；电气特性检查包括建立时间与保持时间检查、占空比检查和信号眼图质量检查中的至少一种；时序协议检查包括指令间时序检查和或指令与数据时序检查；检查结果异常触发异常上报并保存现场采样波形。本发明实现无需外部仪器实时片上电气特性与协议分析。

本发明授权用于DRAM测试的电气时序与协议分析方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种用于DRAM测试的电气时序与协议分析方法，在测试设备内部的信号检测与分析模块中执行，其特征在于，所述电气时序与协议分析方法包括： 通过可配置的时钟延时链或相位插值器，生成与被测DRAM的接口信号同频的多个等相位采样时钟；其中 所述可配置的时钟延时链包括实现大步长延时的粗延时链和实现高精度小步长延时的细延时链，通过延时校准逻辑对所述可配置的时钟延时链的时钟信号进行处理与校准，使所述多个等相位采样时钟的总相位差覆盖一个单位间隔； 通过所述多个等相位采样时钟，对所述接口信号进行分时采样，以在一个单位间隔内获取对应的多个相位采样点； 从所述多个相位采样点中选择信号采样点，获取对应的采样信号进行电气特性检查和时序协议检查，在所述电气特性检查之前对采样信号进行判决反馈均衡处理，以补偿信道失真；其中 所述电气特性检查包括建立时间与保持时间检查、占空比检查和信号眼图质量检查中的至少一种； 所述时序协议检查包括指令间时序检查和或指令与数据时序检查； 当检查结果异常时，触发异常上报并保存现场采样波形。

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