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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利存储器内建自测试方法及其装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117766010B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211139599.8，技术领域涉及：G11C29/08；该发明授权存储器内建自测试方法及其装置是由孙圆圆;王佳设计研发完成，并于2022-09-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本存储器内建自测试方法及其装置在说明书摘要公布了：本公开实施例提供存储器内建自测试方法及其装置。所述测试方法包括：将待测存储器的行地址划分为多个行地址集，以及将每个所述行地址集划分为多个行地址子集；对多个所述行地址集并行进行第一测试数据的写入，针对每个所述行地址集，所述第一测试数据的写入包括：将所述第一测试数据依次写入多个所述行地址子集中的每个所述行地址子集对应的存储单元中；在将所述第一测试数据写入每个所述行地址子集后，对所述待测存储器执行第一刷新操作；等待预设时长后，依次从各个所述行地址集对应的存储单元中读取第一输出数据；根据所述第一测试数据以及所述第一输出数据，得到所述待测存储器的第一测试结果。

本发明授权存储器内建自测试方法及其装置在权利要求书中公布了：1.一种存储器内建自测试方法，其特征在于，所述测试方法包括： 将待测存储器的行地址划分为多个行地址集，以及将每个所述行地址集划分为多个行地址子集； 对多个所述行地址集并行进行第一测试数据的写入，针对每个所述行地址集，所述第一测试数据的写入包括：将所述第一测试数据依次写入多个所述行地址子集中的每个所述行地址子集对应的存储单元中； 在将所述第一测试数据写入每个所述行地址子集后，对所述待测存储器执行第一刷新操作； 等待预设时长后，依次从各个所述行地址集对应的存储单元中读取第一输出数据； 根据所述第一测试数据以及所述第一输出数据，得到所述待测存储器的第一测试结果； 所述将每个所述行地址集划分为多个行地址子集，包括： 根据多个划分规则，将所述待测存储器的行地址集划分为不同的多个行地址子集； 所述测试方法还包括： 获取所述第一测试数据的写入方式、各个所述划分规则对应的测试总时长以及任意相邻两次第一刷新操作之间的时间间隔； 根据所述第一测试数据的写入方式、多个所述测试总时长、任意相邻两次第一刷新操作之间的时间间隔中的至少之一，确定最佳划分规则。

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