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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利一种基于条纹投影测量模型的测量方法、装置和控制设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115200509B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110377229.7，技术领域涉及：G01B11/25；该发明授权一种基于条纹投影测量模型的测量方法、装置和控制设备是由刘少丽;刘威;戚慧志;何森;张旭设计研发完成，并于2021-04-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于条纹投影测量模型的测量方法、装置和控制设备在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于条纹投影测量模型的测量方法、装置和控制设备，测量方法包括：基于三个坐标系，利用条纹投影测量模型中相机、投影仪和被测点之间的几何关系，建立被测点在相机坐标系下的深度坐标与对应的绝对相位值之间的第一映射关系，得到条纹投影测量模型的数学表达式；三个坐标系包括世界坐标系、相机坐标系和像素坐标系；对条纹投影测量系统进行标定，确定数学表达式中的待标定参数；其中，条纹投影测量系统利用条纹投影测量模型构建；根据条纹投影测量系统获得的被测点的绝对相位值和像素坐标，获得被测点的三维坐标。本方案，能够解决现有技术中基于相位高度映射的条纹投影测量方法对相位差、参考平面及精密测量用具依赖性过高的问题。

本发明授权一种基于条纹投影测量模型的测量方法、装置和控制设备在权利要求书中公布了：1.一种基于条纹投影测量模型的测量方法，其特征在于，包括： 基于三个坐标系，利用条纹投影测量模型中相机、投影仪和被测点之间的几何关系，建立所述被测点在相机坐标系下的深度坐标与对应的绝对相位值之间的第一映射关系，得到所述条纹投影测量模型的数学表达式；其中，所述三个坐标系包括世界坐标系、相机坐标系和像素坐标系；所述被测点为待测对象表面上的一个位置点； 对条纹投影测量系统进行标定，确定所述数学表达式中的待标定参数；其中，所述条纹投影测量系统利用所述条纹投影测量模型构建； 根据所述条纹投影测量系统获得的所述被测点的绝对相位值和像素坐标，获得所述被测点的三维坐标； 其中，所述基于三个坐标系，利用条纹投影测量模型中相机、投影仪和被测点之间的几何关系，建立所述被测点在相机坐标系下的深度坐标与对应的绝对相位值之间的第一映射关系，得到所述条纹投影测量模型的数学表达式，包括： 根据相机、投影仪和被测点之间的几何关系，获得所述被测点在所述世界坐标系下的Z轴坐标与对应的绝对相位值之间的第二映射关系； 根据小孔成像原理、世界坐标系与相机坐标系间的变换关系及所述第二映射关系，获得所述被测点在所述世界坐标系下的Z轴坐标与成像点在所述相机坐标系下的坐标之间的第三映射关系；其中，所述成像点为所述被测点在所述相机上的成像点； 根据所述相机和所述被测点之间的几何关系、相机坐标系与像素坐标系间的变换关系及所述第三映射关系，获得所述被测点在所述相机坐标系下的Z轴坐标与所述成像点在所述像素坐标系下的坐标之间的第四映射关系； 根据镜头畸变影响公式与所述第四映射关系，获得所述条纹投影测量模型的数学表达式。

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