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龙图腾网获悉深圳星火半导体科技有限公司申请的专利测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121438913B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202512010663.2，技术领域涉及：G11C29/04；该发明授权测试装置是由钱芳斌;马运扬;陈运松设计研发完成，并于2025-12-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本测试装置在说明书摘要公布了：本申请提供一种测试装置，包括多个卡槽，多个卡槽包括第一卡槽、第二卡槽和第三卡槽；每个卡槽具有与待测存储卡的对应引脚电性连接的接口；第一卡槽内设置有第一检测电路，用于检测存储卡的信号引脚的上钳位二极管是否正常导通；第二卡槽内设置有第二检测电路，用于检测所述存储卡的信号引脚的下钳位二极管是否正常导通；第三卡槽内设置有第三检测电路，用于检测存储卡的信号引脚内部是否短路到地，第一检测电路、第二检测电路和第三检测电路的电路拓扑互不相同。每个存储卡不良品只需要分别插入具有不同测试功能的卡槽，即可判断存储卡是否损坏。通过本申请提供的测试装置进行存储卡不良品开路、短路测试，极大地提升了测试效率。

本发明授权测试装置在权利要求书中公布了：1.一种测试装置，其特征在于，包括多个卡槽，所述多个卡槽包括：第一卡槽、第二卡槽和第三卡槽；每个所述卡槽具有与待测存储卡的对应引脚电性连接的接口； 所述第一卡槽内设置有第一检测电路，所述第一检测电路用于检测所述存储卡的信号引脚的上钳位二极管是否正常导通；所述第二卡槽内设置有第二检测电路，所述第二检测电路用于检测所述存储卡的信号引脚的下钳位二极管是否正常导通；所述第三卡槽内设置有第三检测电路，所述第三检测电路用于检测所述存储卡的信号引脚内部是否短路到地； 其中，所述第一检测电路、所述第二检测电路和所述第三检测电路的电路拓扑互不相同；以及所述第三检测电路被配置为：在测试时，使所述存储卡的地回流信号引脚接地，并使所述存储卡的每个待测信号引脚分别连接至一个检测单元；其中，所述检测单元包括上拉电阻、开关器件和第三指示器件，所述上拉电阻连接在电源电压与所述待测信号引脚之间，所述开关器件的控制端通过一驱动电阻连接至所述待测信号引脚，所述开关器件的输出回路与所述第三指示器件串联在所述电源电压与接地端之间。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳星火半导体科技有限公司，其通讯地址为：518100 广东省深圳市龙岗区坂田街道岗头社区天安云谷产业园二期(02-08地块)11栋1201-1206；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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