奥谱天成(武汉)光电科技有限公司刘鸿飞获国家专利权
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龙图腾网获悉奥谱天成(武汉)光电科技有限公司申请的专利一种色差仪反射率的外推方法及装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121540285B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202610076492.5,技术领域涉及:G01J3/46;该发明授权一种色差仪反射率的外推方法及装置是由刘鸿飞;黄晓晓;朱宏俊设计研发完成,并于2026-01-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种色差仪反射率的外推方法及装置在说明书摘要公布了:本申请实施例提供了一种色差仪反射率的外推方法及装置,可以计算所述参考光强和所述测量光强的比值得到反射率,然而对计算得到的反射率进行窗口数据的采集,从而可以根据模型参数,创建拟合误差函数,根据所述拟合误差函数对多个候选模型进行筛选,得到多个目标模型,并根据多个目标模型对预设窗口大小进行自适应调整,最后计算得到颜色的三刺激值,从而在保持光谱曲线平滑性的同时,通过局部自适应机制提升了测量的一致性,保障数据的物理合理性。
本发明授权一种色差仪反射率的外推方法及装置在权利要求书中公布了:1.一种色差仪反射率的外推方法,其特征在于,包括: 通过光谱仪采集积分球内壁的参考光强和物体表面的测量光强;计算所述参考光强和所述测量光强的比值,得到反射率;通过预设窗口大小,对计算得到的反射率进行窗口数据的采集;对采集到的窗口数据,通过自适应拟合系数进行平滑处理,得到平滑后的数据; 根据所述采集到的窗口数据和所述平滑后的数据,计算趋势强度、差分幅度和非平滑性值,其中,所述趋势强度用于表征窗口总体的上升或下降速度,所述差分幅度用于表征窗口内部变化的整体强度,所述非平滑性值用于表征非线性程度; 获取候选模型集合;根据所述候选模型集合中候选模型的模型参数,创建拟合误差函数,其中,所述拟合误差函数用于表征候选模型在窗口数据上的拟合程度,所述拟合误差函数是根据所述趋势强度、差分幅度和非平滑性值创建的;从所述候选模型集合中,选取损失函数值最小的前目标数量个目标模型; 根据窗口下标索引创建常数模型、线性模型、二次模型、三次模型和对数模型;根据创建的常数模型、线性模型、二次模型、三次模型和对数模型,分别对窗口数据进行外推值的计算; 通过预设权重对计算得到的多组外推值进行加权求和,得到融合后的外推值,其中,所述预设权重是根据所述目标模型确定的; 根据融合的外推值确定对应的约束区间;根据确定的约束区间和预设调整规则,对预设窗口大小进行自适应调整,得到调整后的窗口;根据所述调整后的窗口返回所述通过预设窗口大小,对计算得到的反射率进行窗口数据的采集的步骤继续执行,直至达到预设迭代次数时,根据计算得到的反射率计算颜色的三刺激值。
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