北京工业大学曾维靖获国家专利权
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龙图腾网获悉北京工业大学申请的专利一种在电子显微镜中原位变形微纳米样品的装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116678901B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310522888.4，技术领域涉及：G01N23/02；该发明授权一种在电子显微镜中原位变形微纳米样品的装置及方法是由曾维靖设计研发完成，并于2023-05-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种在电子显微镜中原位变形微纳米样品的装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种在电子显微镜中原位弯曲变形微纳样品的装置及方法，属于扫描透射电子显微镜配件及微纳米材料力学性能测量研究领域。包括支撑部分、驱动部分、弯曲加载部分和样品载台部分四部分。纳米材料一端固定在样品载台前端悬空部分，另一段为自由端。通过加热弯曲的双金属片带动弯曲加载部分推动纳米材料自由端，使纳米材料达到弯曲变形效果。本发明将双金属片与样品分开固定解决了原位弯曲纳米材料过程中力学稳定性差，样品容易在变形过程中移动的问题，提高了固定样品和原位成像的稳定性，实现对样品弯曲变形，并同时观察材料在变形过程中的结构演变。在实现对单根多根纳米线轴弯曲变形的同时，原位观察材料在变形过程中的结构演变。
本发明授权一种在电子显微镜中原位变形微纳米样品的装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种在电子显微镜中原位变形微纳米样品的装置，其特征在于：包括支撑部分1、驱动部分2、弯曲加载部分3和样品载台部分4四部分；支撑部分1为金属圆环，其内环侧有两个对称支撑台；驱动部分2为一片双金属片，双金属片一端垂直固定在支撑部分1内环的其中一侧支撑平台上，另一端为自由端；弯曲加载部分3为一片梯形金属片，较宽的一边平行固定在双金属片自由端；样品载台部分4为一片梯形结构的金属片，宽端固定在支撑部分1的另一侧支撑台上，窄端为自由端，纳米样品5垂直固定在自由端，在驱动部分2的弯曲朝向的一侧，不与弯曲加载部分3接触。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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