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龙图腾网获悉中国石油化工股份有限公司;中石化(北京)化工研究院有限公司申请的专利杂质沾污量与杂质浓度随深度半定量分布的测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116929864B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210316864.9，技术领域涉及：G01N1/28；该发明授权杂质沾污量与杂质浓度随深度半定量分布的测量方法是由侯瑞祥;李昊坤;李昕伟;曲树璋;郑萃;王伟设计研发完成，并于2022-03-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本杂质沾污量与杂质浓度随深度半定量分布的测量方法在说明书摘要公布了：本发明属于材料分析技术领域，为解决标样材料限制待测材料的技术问题，提供一种单位面积杂质沾污量与杂质浓度随深度半定量分布的测量方法，制备定量样品与待测样品：定量样品采用能通过标样来剖析杂质浓度随深度定量分布的材料；待测样品与待测材料为同一种材料；定量样品与待测样品经历完全相同的处理工艺，使定量样品单位面积引入的杂质数量与待测样品相等；通过标样得到定量样品中目标杂质浓度随深度定量分布，积分运算后得到目标杂质的单位面积沾污量Q1，计算目标杂质在待测样品中的信号强度积分值Q2；计算转换系数k＝Q1Q2；通过转换系数k将目标杂质信号强度随深度分布的曲线函数gx转换为目标杂质浓度随深度半定量分布函数hx。

本发明授权杂质沾污量与杂质浓度随深度半定量分布的测量方法在权利要求书中公布了：1.一种杂质沾污量测量方法，其特征在于，用于测量杂质在材料浅表层的单位面积沾污量，所述浅表层是指从材料表面距离材料内部200nm以内深度；包括以下步骤： 制备定量样品与待测样品：定量样品采用能够通过标样来剖析杂质浓度随深度定量分布的材料制成；待测样品采用与待测材料相同的材料制成； 定量样品与待测样品在同一工艺处理空间中同步经历完全相同的处理工艺，定量样品与待测样品的尺寸相对于工艺处理空间能够视为质点，从而使得定量样品单位面积引入的杂质数量与待测样品相等，即具有相同的单位面积沾污量； 通过与定量样品相同材料的标样来测量定量样品中目标杂质浓度随深度定量分布，并拟合得到目标杂质浓度随深度定量分布的曲线函数fx； 对所述曲线函数fx在定量样品的积分区间[0，a]内进行积分运算，a表示目标杂质能够在定量样品中被检测出信号的最小浓度所对应的深度，从而得到定量样品单位面积的目标杂质数量，也即目标杂质在待测样品浅表层的单位面积沾污量Q1。

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