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龙图腾网获悉重庆大学申请的专利一种基于凸分解的凹颗粒形态表征方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116934838B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310937320.9，技术领域涉及：G06T7/64；该发明授权一种基于凸分解的凹颗粒形态表征方法及装置是由杨忠平;李子睿;杜立兵;刘新荣设计研发完成，并于2023-07-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于凸分解的凹颗粒形态表征方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及颗粒形态表征技术领域，公开了一种基于凸分解的凹颗粒形态表征方法及装置，所述方法包括：S1凹颗粒轮廓提取，对凹颗粒高清拍照，通过数字图像处理获得凹颗粒轮廓，并进行标准化处理流程得到最简凹颗粒形态。S2形态预分解，进行德劳内三角剖分，以其作为凹颗粒的形态预剖分线。S3形态优化分解，计算形态凹点权值，建立最优剖分矩阵，以剖分点总权值最大为目标，进行形态优化凸分解。S4形态定量表征，基于凸分解颗粒的面积分布，定义凹颗粒凸分解系数，表征凹颗粒形态特征。本发明在提高形态参数计算效率的同时，实现了凹颗粒不同层次的形态表征，为凹颗粒宏微观力学特性的研究提供参考。

本发明授权一种基于凸分解的凹颗粒形态表征方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种基于凸分解的凹颗粒形态表征方法，其特征在于，包括： S1：凹颗粒轮廓提取； S2：形态预分解； S3：形态优化分解； S4：形态定量表征； ①计算形态凹点权值；基于权函数，计算形态凹点权值；权函数如下： 其中，为凹度函数；按照逆时针顺序或顺时针顺序对凹颗粒轮廓的所有顶点进行编号，分别为、、、、、、，为整数，；则为凹颗粒轮廓的第个顶点，为凹颗粒轮廓的第个顶点，为凹颗粒轮廓的第个顶点，为凹颗粒轮廓的第个顶点，为正整数，为顶点与相邻的前一个顶点构成的向量，为顶点与相邻的后一个顶点构成的向量，为顶点的凹度，为顶点的凹度，为预剖分线与第一相邻线的夹角，为预剖分线与第二相邻线的夹角，第一相邻线为凹点与其相邻的一个顶点之间的连线，第二相邻线为凹点与其相邻的另一个顶点之间的连线，为权值； ②建立最优剖分矩阵；基于形态凹点权值，建立最优剖分矩阵，以剖分点总权值最大为目标，进行凹颗粒形态的优化凸分解；过程如下： 最大化 满足 其中，为最优剖分矩阵，按照四度大小从大到小对凹点进行排序，分别为、、、、、，为凹点的个数；为由凹点的预剖分线构成的集合；是集合的元素，即预剖分线； ①凸颗粒面积分布：计算优化分解后的凸颗粒面积分布；公式如下： 其中，表示第块凸分解颗粒的面积率；表示第块凸分解颗粒的面积；表示凹颗粒总面积； ②定义凸分解系数：根据凸颗粒的面积分布，定义凸分解系数，实现凹颗粒形态的定量表征；公式如下： 其中，表示第块凹颗粒凸分解颗粒的面积率，所述凸分解颗粒的面积率根据各凹颗粒凸分解颗粒的面积分布获得，按照从大到小的顺序对凸分解颗粒的面积率进行排序，分别为、、、、；为凸分解面积阈值，为凸分解系数，和均为正整数。

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