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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种射频低噪声放大电路多步寿命预测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117591818B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311353856.2，技术领域涉及：G06F18/20；该发明授权一种射频低噪声放大电路多步寿命预测方法是由吴坤枰;龙兵;步致远;刘震;徐如远;张生鹏设计研发完成，并于2023-10-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种射频低噪声放大电路多步寿命预测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种射频低噪声放大电路多步寿命预测方法，将扫频信号作为待测射频低噪声放大电路寿命预测时其输入端的激励信号，然后提取在不同频率和不同时刻的电路特征参数构成特征矩阵，根据特征矩阵计算电路的健康分数构成健康分数序列，将两个GRU模型分别作为生成对抗网络的生成器和判别器，采用健康分数序列对生成对抗网络进行训练，从训练完成的生成对抗网络中提取生成器作为寿命预测模型，然后在需要进行寿命预测时，提取特征矩阵并计算出健康分数序列，输入寿命预测模型迭代预测得到健康分数预测值。本发明基于生成对抗网络训练得到寿命预测模型，提高射频低噪声放大电路的寿命预测准确率。

本发明授权一种射频低噪声放大电路多步寿命预测方法在权利要求书中公布了：1.一种射频低噪声放大电路多步寿命预测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：设置待测射频低噪声放大电路的线性扫频信号的参数，包括中心频率，下限频率，上限频率，频率步进，计算得到频率数量； S2：将线性扫频信号作为激励信号对待测射频低噪声放大电路进行仿真分析，提取不同时刻电路的特征矩阵，其中时刻的特征矩阵的大小为，表示电路特征参数的数量，矩阵中第个行向量是在频率为的激励信号下得到的电路特征向量； S3：根据每个时刻的特征矩阵计算对应的健康分数，具体方法如下： 首先对时刻的特征矩阵中各个电路特征参数进行归一化，得到归一化后的特征矩阵； 计算各时刻的特征矩阵与特征矩阵中对应列向量的欧式距离，，然后采用如下公式计算各时刻的健康分数： ， 将所有时刻的健康分数构成健康分数序列； S4：将获得的健康分数序列通过长度为、步长为1的滑动窗口分割成若干子序列，记所得到的序列数量；将每个子序列作为真实序列，记第个真实序列，； S5：基于生成对抗网络构建寿命预测模型，具体步骤包括： S5.1：设置两个GRU模型，分别作为生成对抗网络的生成器和判别器； S5.2：对于每个训练序列分别采用迭代策略生成个虚假序列，具体方法为： 将训练序列输入生成器，得到基于训练序列的时刻的健康分数预测值，构成基于训练序列的虚假序列；然后将虚假序列输入生成器，得到基于训练序列的时刻的健康分数预测值，构成基于训练序列的虚假序列；如此迭代预测次，生成个基于训练序列的虚假序列，； S5.3：对于每个真实序列，从步骤S5.2生成的虚假序列中搜索与其时刻相同的虚假序列，组成真实-虚假序列对； S5.4：将每个真实虚假序列对输入判别器，由判别器判别得到真实序列或虚假序列为真的概率； S5.5：对生成器和判别器的参数进行交替更新； S5.6：从训练完成的生成对抗网络中提取生成器作为寿命预测模型； S6：当需要进行寿命预测时，将线性扫频信号作为激励信号输入待测射频低噪声放大电路，采集得到最近个时刻的电路特征参数，采用步骤S2中的方法构成大小为的特征矩阵，；采用步骤S3中的方法计算各个时刻的健康分数，构成健康分数序列；将健康分数序列输入寿命预测模型，迭代预测得到未来个时刻的健康分数预测值。

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