武汉理工大学罗国强获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉理工大学申请的专利基于激光超声色散谱的梯度材料厚度测量方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121720390B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610226381.8，技术领域涉及：G01B11/06；该发明授权基于激光超声色散谱的梯度材料厚度测量方法和系统是由罗国强;程谱;张睿智;张建;沈强设计研发完成，并于2026-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于激光超声色散谱的梯度材料厚度测量方法和系统在说明书摘要公布了：本申请提出了一种基于激光超声色散谱的梯度材料厚度测量方法和系统，涉及激光测量技术领域，包括：通过光学掩膜版对激发激光进行调制，形成周期性强度分布的瞬态光栅，利用所述瞬态光栅在待测材料中激发特定频率的超声波，并利用激光干涉仪进行线扫描接收所述超声波经所述待测材料的结构作用生成的兰姆波信号；对兰姆波信号进行二维傅里叶变换，得到目标色散曲线；目标色散曲线包括信号频率和波数的映射关系；利用传递矩阵算法生成多组材料厚度参数与色散曲线参数组成的样本对，并基于样本对训练预设深度神经网络，直至损失函数达到预设阈值范围内，得到目标神经网络；将所述目标色散曲线输入至所述目标神经网络，得到所述待测材料的厚度参数。
本发明授权基于激光超声色散谱的梯度材料厚度测量方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种基于激光超声色散谱的梯度材料厚度测量方法，其特征在于，包括： 通过光学掩膜版对激发激光进行调制，形成周期性强度分布的瞬态光栅，利用所述瞬态光栅在待测材料中激发特定频率的超声波，并利用激光干涉仪进行线扫描接收所述超声波经所述待测材料的结构作用生成的兰姆波信号； 对所述兰姆波信号进行二维傅里叶变换，得到目标色散曲线；所述目标色散曲线包括信号频率和波数的映射关系； 利用传递矩阵算法生成多组材料厚度参数与色散曲线参数组成的样本对，并基于所述样本对训练预设深度神经网络，直至损失函数达到预设阈值范围内，得到目标神经网络；将所述目标色散曲线输入至所述目标神经网络，得到所述待测材料的厚度参数。
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