深圳市大雅新科技有限公司刘业涛获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市大雅新科技有限公司申请的专利一种FPGA的芯片电性能测试平台获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224190182U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202521093735.3，技术领域涉及：G01R31/3181；该实用新型一种FPGA的芯片电性能测试平台是由刘业涛;刘剑;刘剑飞设计研发完成，并于2025-05-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种FPGA的芯片电性能测试平台在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种FPGA的芯片电性能测试平台，包括底座，所述底座上固定安装有立柱，所述立柱上设置有测试探针，所述底座上设置有圆盘，所述圆盘上活动安装有芯片座，所述芯片座的两侧均开设有侧槽，所述圆盘上固定安装有圆杆，所述圆杆外表面的两侧均活动套接有方杆，所述方杆上设置有卡块。根据本公开的一个实施例，通过设置方杆、卡块和驱动组件，当工作人员需要拆下芯片座进行更换时，可以通过驱动组件使得两个方杆带动两个卡块相背运动，从而能够使得两个卡块从侧槽的内部抽出，进而能够快速解除对芯片座的限位，相对于现有拆卸多个螺栓更换芯片座，本方案方便快捷，能够提升整体测试效率。
本实用新型一种FPGA的芯片电性能测试平台在权利要求书中公布了：1.一种FPGA的芯片电性能测试平台，包括底座1，所述底座1上固定安装有立柱2，所述立柱2上设置有测试探针3，其特征在于：所述底座1上设置有圆盘4，所述圆盘4上活动安装有芯片座5，所述芯片座5的两侧均开设有侧槽6，所述圆盘4上固定安装有圆杆7，所述圆杆7外表面的两侧均活动套接有方杆8，所述方杆8上设置有卡块9，所述卡块9的一端延伸至侧槽6内部，所述方杆8与圆盘4之间还通过驱动组件连接，驱动组件能够使得方杆8带动卡块9运动解除对芯片座5的限位。
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