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龙图腾网获悉中国航空综合技术研究所申请的专利基于威布尔参数的航空电子产品使用寿命预测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115730465B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211526522.6，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权基于威布尔参数的航空电子产品使用寿命预测方法是由蒋素雯;白春磊;徐文正;孙胜;徐英东设计研发完成，并于2022-11-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于威布尔参数的航空电子产品使用寿命预测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于威布尔参数的航空电子产品使用寿命预测方法，其包括以下步骤，步骤1：获取航空电子产品寿命的初始样本数据，处理并获得失效数据集；步骤2：计算航空电子产品初始样本数据的失效样本等级和累积失效概率；步骤3：利用最小二乘法拟合航空电子产品寿命的威布尔分布参数；步骤4：根据威布尔分布的参数绘制航空电子产品寿命曲线，实现航空电子产品寿命预测。本发明基于分组试验方法，使用第一次发生失效时的失效数据，大大缩短了试验时间。通过对失效样本分级处理，综合应用了已发生失效样本数据和未发生失效样本数据，使得样本的累计失效概率更准确，进一步实现了航空电子产品寿命的准确预测。

本发明授权基于威布尔参数的航空电子产品使用寿命预测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于威布尔参数的航空电子产品使用寿命预测方法，其特征在于，其包括以下步骤： 步骤1：获取航空电子产品寿命的初始样本数据，处理并获得失效数据集，具体为： 将总数为N的初始样本分成n批，保证每批样本数量mn不少于3个；对每批样本依次进行试验，当该批样本中有一个样本失效时，则停止该批次试验，记录该批次中第一次样本失效发生时间tn；随后换下一批样本重复试验，直到所有批次样本均完成试验，整理并储存试验数据；将各批次失效样本发生时间tn按时间顺序排列，记为Tk，其中k表示样品发生失效时间的先后次序，将未发生失效的最小样本数量记为Sk，形成失效数据集； 步骤2：计算航空电子产品初始样本数据的失效样本等级和累积失效概率，包括以下子步骤： 步骤21：航空电子产品初始样本数据的失效样本等级计算方法如下所示： 式中：rankk表示第k次失效样本等级；rankk-1表示第k-1次失效样本等级；N表示样本数据总量；rankk-2表示第k-2次失效样品等级；Sk表示Tk时刻未发生失效的最小样本数量；k表示样品发生失效的时间次序； 步骤22：计算航空电子产品初始样本数据失效样本的累积失效概率，计算方法如下所示： 式中：FTk表示Tk时刻该航空电子产品失效样本累积失效概率； 步骤3：利用最小二乘法拟合航空电子产品寿命的威布尔分布参数，包括以下子步骤： 步骤31：航空电子产品寿命的概率分布函数如下所示： 式中：Gt表示航空电子产品寿命的概率分布函数值；t表示航空电子产品使用时间；β表示威布尔分布的形状参数；η表示威布尔分布的尺度参数；e表示自然对数； 对上式取两次对数，获得航空电子产品寿命的概率分布函数的对数计算关系，如下所示： 式中：ln表示取对数操作； 步骤32：将航空电子产品寿命概率分布函数的对数计算关系中的参数进行变量替换，完成复杂参数线性化，则能够获得简化概率分布函数的对数计算关系，如下所示： y＝a+bx； 式中：y表示简化后的概率分布函数的因变量；a表示简化后的概率分布函数截距；b表示简化后的概率分布函数的斜率；x表示简化后的概率分布函数的自变量； 步骤33：通过最小二乘法求出简化后的概率分布函数截距a和概率分布函数的斜率b，如下所示： 式中：表示第一回归系数；表示第二回归系数；xi表示第i个自变量；表示自变量平均值；yi表示第i个因变量；表示因变量平均值；n表示初始样本批数； 步骤34：将步骤2中计算得到的失效样本累积失效概率带入步骤3中的计算过程，最终得到威布尔分布的参数值，如下所示： 式中：表示威布尔分布的形状参数；表示威布尔分布的尺度参数； 步骤4：根据威布尔分布的参数绘制航空电子产品寿命曲线，实现航空电子产品寿命预测，具体为： 将步骤34中获得的威布尔分布的形状参数和威布尔分布的尺度参数带入步骤31中，绘制航空电子产品寿命的威布尔分布曲线，获得航空电子产品寿命的预测结果。

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