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龙图腾网获悉沈阳工业大学申请的专利一种基于动态公差图的加工工艺尺寸链计算方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115795707B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211366824.1，技术领域涉及：G06F30/17；该发明授权一种基于动态公差图的加工工艺尺寸链计算方法是由张悦;韩立;杨赫然;李强;孙兴伟设计研发完成，并于2022-11-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于动态公差图的加工工艺尺寸链计算方法在说明书摘要公布了：本发明一种基于动态公差图的加工工艺尺寸链计算方法，涉及机械零件制造及切削加工工艺技术领域。其特征在于：该方法包括如下步骤进行：步骤一：根据初始条件，按极值法计算目标环的独立合格区；步骤二：计算目标环的最大上偏差和最小下偏差；步骤三：计算目标环的动态上偏差和动态下偏差；步骤四：计算目标环的动态合格区；步骤五：绘制工艺尺寸链动态公差带图。本发明的目的在于能够确定得到的尺寸链计算中完整合格范围，避免“误判废”，同时还能节约生产成本。本发明的有益效果是：1.完整地表达零件全部合格范围；2.避免生产中的“误判废”，从而避免经济损失；3.扩大合格范围，降低加工难度，进而降低生产成本。

本发明授权一种基于动态公差图的加工工艺尺寸链计算方法在权利要求书中公布了：1.一种基于动态公差图的加工工艺尺寸链计算方法，其特征在于：该方法包括如下步骤进行： 步骤一：根据初始条件，按极值法计算目标环的独立合格区； 步骤二：计算目标环的最大上偏差和最小下偏差； 步骤三：计算目标环的动态上偏差和动态下偏差； 步骤四：计算目标环的动态合格区； 步骤五：绘制工艺尺寸链动态公差图； 步骤一所述根据初始条件，按极值法计算目标环的独立合格区，其具体过程如下： 按式1、2、3进行计算： 1 2 3 式中：A0、Az、Aj分别为封闭环、增环、减环的公称尺寸；ES0、ESz、ESj分别为封闭环、增环、减环的上偏差；EI0、EIz、EIj分别为封闭环、增环、减环的下偏差；m为增环数；n为减环数； 当目标环为减环时，设编号为j1，计算结果是：公称尺寸为Aj1、上偏差为ESj1、下偏差为EIj1，即目标环j1实际尺寸Aaj1的合格范围是：Aj1+EIj1≤Aaj1≤Aj1+ESj1，用偏差表示为EIj1≤Eaj1≤ESj1，其中Eaj1为目标环j1的实际偏差； 当目标环为增环时，设编号为z1，计算结果是：公称尺寸为Az1、上偏差为ESz1、下偏差为EIz1；即目标环z1实际尺寸Aaz1的合格范围是：Az1+EIz1≤Aaz1≤Az1+ESz1，用偏差表示为EIz1≤Eaz1≤ESz1，其中Eaz1为目标环z1的实际偏差； 以上目标环j1或目标环z1的合格范围，与其他组成环及封闭环尺寸无关，为独立合格区； 步骤二所述计算目标环的最大上偏差和最小下偏差，其具体过程如下： 当目标环为减环时，其最大上偏差和最小下偏差计算方法为： 最大上偏差：4 最小下偏差：5 式中ES′j1为目标环j1的最大上偏差，EI′j1为目标环j1的最小下偏差； 当目标环为增环时，其最大上偏差和最小下偏差计算方法为： 最大上偏差：6 最小下偏差：7 式中ES′z1为目标环z1的最大上偏差，EI′z1为目标环z1的最小下偏差； 步骤三所述计算目标环的动态上偏差和动态下偏差，其具体过程如下： 当目标环为减环时，其动态上偏差和动态下偏差计算方法为： 动态上偏差：8 动态下偏差：9 式中ESΣj1为目标环j1的动态上偏差；EIΣj1为目标环j1的动态下偏差； 当目标环为增环时，其动态上偏差和动态下偏差计算方法为： 动态上偏差：10 动态下偏差：11 式中ESΣz1为目标环z1的动态上偏差；EIΣz1为目标环z1的动态下偏差； 步骤四所述计算目标环的动态合格区，其具体过程如下： 封闭环和组成环尺寸实际偏差a的关系和每个尺寸都有的EI≤Ea≤ES关系，计算得： 当目标环为减环时，目标环j1的动态合格区为： 13 式中Ex为动态偏差变量；aj1为目标环j1的实际偏差； 当目标环为增环时，目标环z1的动态合格区为： 14 式中az1为目标环z1的实际偏差。

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