谷歌有限责任公司蒂莫西·博迪亚获国家专利权
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龙图腾网获悉谷歌有限责任公司申请的专利用于测试光栅的系统和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115077873B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210750197.5，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权用于测试光栅的系统和方法是由蒂莫西·博迪亚设计研发完成，并于2022-06-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于测试光栅的系统和方法在说明书摘要公布了：本公开涉及用于测试光栅的系统和方法。光栅诸如波导显示器中使用的光栅可能具有大的纵横比。例如，光栅特性例如，周期、特征尺寸等可以比光栅区域小得多。在光栅区域上的光栅特性的变化可以看起来像叠加在初级光栅上的具有长光栅周期的次级光栅，光栅针对初级光栅进行设计。因为在相对于初级光栅周期的长距离上发生导致次级光栅的变化，所以可能难以利用针对较短距离设计的测试方法来定位和表征这些变化。本公开提出用于快速地且有效地检测和表征次级光栅的系统和方法。
本发明授权用于测试光栅的系统和方法在权利要求书中公布了：1.一种用于测试光栅的方法，包括： 将来自被调谐到测试波长的激光器的光引导到所述光栅上的第一测试区域； 基于穿过所述第一测试区域的所述光来捕获光栅图像； 分析所述光栅图像以测量来自次级光栅的衍射并且当测量到的衍射为非零时从所述衍射确定所述次级光栅的特性，所述次级光栅由初级光栅的缺陷产生，所述初级光栅具有作为所述测试波长的亚波长的初级光栅周期使得不衍射所述测试波长；以及 在所述光栅上的第二测试区域处重复所述引导、捕获和分析的步骤，以表征所述初级光栅的所述缺陷。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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