北京中发芯测科技有限公司孙芹获国家专利权
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龙图腾网获悉北京中发芯测科技有限公司申请的专利一种射频芯片测试误差补偿方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121299562B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511733129.8，技术领域涉及：G01R35/00；该发明授权一种射频芯片测试误差补偿方法是由孙芹;滕昊;桑作钧;李建国设计研发完成，并于2025-11-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种射频芯片测试误差补偿方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种射频芯片测试误差补偿方法，涉及电参量测量与射频测量技术领域，本发明提出的射频芯片测试误差补偿方法，通过在测试夹具近端布设温度采集并将温度作为外生输入，配合以等效接触网络为状态量、以按频点的S参数阻抗为观测量的扩展卡尔曼滤波，实现对接触特性的在线估计；再以传输参数等可级联网络参数为工作域完成逆级联去嵌入，从而在发生温度变化与接触轻微扰动时仍可实时修正测量结果；与依赖固定模型的离线补偿不同，本发明引入残差驱动的协方差自适应与突变触发的增强更新，能够随温度变化率与漂移累积动态调整滤波权重，显著提升时效性与适应性。
本发明授权一种射频芯片测试误差补偿方法在权利要求书中公布了：1.一种射频芯片测试误差补偿方法，应用于高温环境下测试夹具接触特性漂移的在线补偿，其特征在于，包括： a采集布置于测试夹具被测端附近的温度数据以及测量装置输出的原始测量数据，其中所述原始测量数据包括按频点获取的S参数或阻抗数据； b构建以测试夹具等效接触网络参数为状态量的状态空间模型，将温度作为外生输入，并以所述原始测量数据为观测量，运行扩展卡尔曼滤波获得按频点的接触网络参数估计，所述等效接触网络参数表示接触界面在频域下的串联损耗与两侧并联泄放的综合表征； c基于所述接触网络参数估计，对所述原始测量数据在网络参数域执行去嵌入处理，以得到补偿后的测量结果，所述去嵌入处理是将测得的S参数转换为适于级联系统计算的网络参数，利用所述接触网络参数估计构造接触网络的逆级联，再将结果转换回目标输出域并在统一参考阻抗下输出； d在测试过程中循环执行步骤a至c，以跟踪接触特性的动态变化并输出实时补偿结果。
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