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龙图腾网获悉广州中科飞测科技有限公司申请的专利一种膜层结晶状态的测量方法及相关装置、存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121595476B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610121512.6，技术领域涉及：G01N21/17；该发明授权一种膜层结晶状态的测量方法及相关装置、存储介质是由白园园;马砚忠;孙韬;戴鹭楠;崔舒涵;陈鲁设计研发完成，并于2026-01-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种膜层结晶状态的测量方法及相关装置、存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种膜层结晶状态的测量方法及相关装置、存储介质，所述方法包括：通过泵浦光向待测材料激发超声，再向同一点位发射探测光进行超声检测，得到当前检测信号；若当前检测信号的信噪比大于分贝阈值，从基于检测信号分析异常结晶区域的声阻抗，指示待测材料异常结晶的程度；若当前检测信号的信噪比不大于分贝阈值，基于当前检测信号分析待测材料的声速以及声阻抗；利用待测材料的声速以及声阻抗计算出待测材料的杨氏模量，并作为待测材料的结晶状态的量化指标输出；若无法分析待测材料的声速，则基于当前检测信号获取两次回波信号的幅值，并利用两次回波信号的幅值的比值计算出回波的衰减参数，并作为待测材料的结晶状态的量化指标输出。

本发明授权一种膜层结晶状态的测量方法及相关装置、存储介质在权利要求书中公布了：1.一种膜层结晶状态的测量方法，其特征在于，包括： 通过泵浦光向待测材料的任意一个扫描点位激发超声，再向同一扫描点位发射探测光进行超声检测，得到当前检测信号； 若所述当前检测信号的信噪比大于分贝阈值，则基于所述当前检测信号分析异常结晶区域的声阻抗；其中，所述分贝阈值为探测到异常结晶区域的回波信号的信噪比的分贝阈值； 利用所述异常结晶区域的声阻抗指示所述待测材料异常结晶的程度； 若所述当前检测信号的信噪比不大于分贝阈值，则基于当前检测信号分析所述待测材料的声速以及声阻抗； 利用所述待测材料的声速以及声阻抗计算出所述待测材料的杨氏模量，并将所述待测材料的杨氏模量作为所述待测材料的结晶状态的量化指标输出； 若无法分析所述待测材料的声速，则基于所述当前检测信号获取两次回波信号的幅值，并利用两次回波信号的幅值的比值计算出回波的衰减参数，将所述衰减参数作为所述待测材料的结晶状态的量化指标输出。

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