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龙图腾网获悉中国航发北京航空材料研究院申请的专利单晶空心工作叶片的测厚方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116817810B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310807072.6，技术领域涉及：G01B17/02；该发明授权单晶空心工作叶片的测厚方法是由喻健;石佳;骆宇时;李嘉荣;谭俊龙设计研发完成，并于2023-07-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本单晶空心工作叶片的测厚方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种单晶空心工作叶片的测厚方法，包括以下步骤：制作纵向平行[001]晶向、横向偏离[100]晶向0°、10°、20°、30°、45°偏离角度的单晶试样；使用偏离角度为0°的单晶试样对超声设备做基准修正；将偏离角度为0°、10°、20°、30°、45°的单晶试样的实际厚度与测试厚度比值作为初始修正系数；通过初始修正系数外推单晶空心工作叶片0‑45°范围内不同偏离角度的修正系数图谱；测试单晶空心工作叶片的二次取向并记录数值，通过二次取向计算待测点的修正系数角度，并在修正系数图谱中确定待测点偏离角度的对应修正系数；将待测点的测试厚度与修正系数相乘，即得待测点修正后的测试厚度。本发明解决了因超声测厚取向导致测量误差偏大的问题。

本发明授权单晶空心工作叶片的测厚方法在权利要求书中公布了：1.一种单晶空心工作叶片的测厚方法，其特征在于，所述测厚方法按照先后顺序包括以下步骤： 步骤一：选择与被测单晶空心工作叶片同质的单晶试棒，在试棒上分别制作纵向平行[001]晶向、横向偏离[100]晶向0°、10°、20°、30°、45°偏离角度的单晶试样； 步骤二：使用纵向平行[001]晶向、横向偏离[100]晶向0°偏离角度的单晶试样对超声设备做基准修正； 步骤三：使用修正后的超声设备分别对纵向平行[001]晶向、横向偏离[100]晶向10°、20°、30°、45°偏离角度的单晶试样进行超声测厚，并将超声测试获得的测试厚度与实际厚度进行比对，获得纵向平行[001]晶向、横向偏离[100]晶向10°、20°、30°、45°偏离角度的单晶试样的实际厚度与测试厚度的比值；将纵向平行[001]晶向、横向偏离[100]晶向0°、10°、20°、30°、45°偏离角度的单晶试样的实际厚度与测试厚度的比值分别作为各自的初始修正系数； 步骤四：通过纵向平行[001]晶向、横向偏离[100]晶向0°、10°、20°、30°、45°偏离角度的初始修正系数，外推单晶空心工作叶片纵向平行[001]晶向、横向偏离[100]晶向0-45°范围内不同偏离角度的修正系数图谱； 步骤五：使用取向测试设备测试单晶空心工作叶片的二次取向，记录单晶空心工作叶片的二次取向的数值，通过二次取向计算单晶空心工作叶片上待测点的修正系数角度，并在单晶空心工作叶片纵向平行[001]晶向、横向偏离[100]晶向0-45°范围内不同偏离角度的修正系数图谱中确定该待测点偏离角度的修正系数；待测点的法线与[100]晶向和[010]晶向分别形成一个夹角，将其中的最小夹角作为修正系数角度； 步骤六：使用超声设备对单晶空心工作叶片上的待测点进行超声测厚，将测试厚度与该待测点偏离角度的修正系数相乘，即可得到单晶空心工作叶片该待测点修正后的测试厚度，修正后的测试厚度无限接近于真实厚度。

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