苏州紫灿科技有限公司陈云获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州紫灿科技有限公司申请的专利一种深紫外LED外延片测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116884863B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211102260.0，技术领域涉及：H10P74/00；该发明授权一种深紫外LED外延片测试方法是由陈云;岳金顺;张骏;张毅;陈景文设计研发完成，并于2022-09-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种深紫外LED外延片测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种深紫外LED外延片测试方法，包括：采用激光器件，在所述深紫外LED外延片的正面进行标刻，以露出所述深紫外LED外延片的N型结构并形成N型暴露点后，在所述N型暴露点上制作出N型接触点；在所述深紫外LED外延片的正面进行压铟操作，以在所述深紫外LED外延片上形成多个P型接触点；将所述深紫外LED外延片放置于测试支架上，并调整所述测试支架的位置，以使所述深紫外LED外延片的P型接触点与测试支架下方的积分球数据窗口位于同一直线上；将电源表的正负极分别连接所述P型接触点和N型接触点，并在通电后，通过所述积分球收集出光数据，并将所述出光数据发送至上位机中。本发明解决了现有技术中无法准确将N型层和P型层连接的问题。
本发明授权一种深紫外LED外延片测试方法在权利要求书中公布了：1.一种深紫外LED外延片测试方法，其特征在于，包括如下步骤： 采用激光器件，在所述深紫外LED外延片的正面进行标刻，以露出所述深紫外LED外延片的N型结构并形成N型暴露点后，在所述N型暴露点上制作出N型接触点； 在所述深紫外LED外延片的正面进行压铟操作，以在所述深紫外LED外延片上形成多个P型接触点； 将所述深紫外LED外延片放置于测试支架上，并调整所述测试支架的位置，以使所述深紫外LED外延片的P型接触点与测试支架下方的积分球数据窗口位于同一直线上； 将电源表的正负极分别连接所述P型接触点和N型接触点，并在通电后，通过所述积分球收集通过所述深紫外LED外延片背面的蓝宝石衬底发出的出光数据，并将所述出光数据发送至上位机中。
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