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北京无线电测量研究所肖枫获国家专利权

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龙图腾网获悉北京无线电测量研究所申请的专利一种合成孔径雷达高度计成像处理方法、系统和存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN117031468B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310993800.7,技术领域涉及:G01S13/90;该发明授权一种合成孔径雷达高度计成像处理方法、系统和存储介质是由肖枫;孔维亚;孙晗伟设计研发完成,并于2023-08-08向国家知识产权局提交的专利申请。

一种合成孔径雷达高度计成像处理方法、系统和存储介质在说明书摘要公布了:本发明涉及合成孔径雷达高度计技术领域,公开一种合成孔径雷达高度计成像处理方法、系统和存储介质,包括:根据合成孔径雷达高度计在成像处理中的初始数据,得到并根据每个目标成像点的多个总延迟校正数据,确定每个目标成像点的多个距离向压缩数据;基于每个目标成像点的多个总延迟校正数据,得到每个目标成像点的目标MASK图,并基于每个目标成像点的目标MASK图和多个距离向压缩数据,得到每个目标成像点的目标波形图并根据波形图,生成合成孔径雷达高度计在成像处理中的目标数据。本发明在不增加运算量的前提下提升了多视波形质量,能够实现合成孔径雷达高度计的高精度成像处理,获取合成孔径雷达高度计成像处理中高质量的L1B数据。

本发明授权一种合成孔径雷达高度计成像处理方法、系统和存储介质在权利要求书中公布了:1.一种合成孔径雷达高度计成像处理方法,其特征在于,包括: 根据合成孔径雷达高度计在成像处理中的初始数据,得到并根据每个目标成像点的多个总延迟校正数据,确定每个目标成像点的多个距离向压缩数据; 基于每个目标成像点的多个总延迟校正数据,得到每个目标成像点的目标MASK图,并基于每个目标成像点的目标MASK图和多个距离向压缩数据,得到每个目标成像点的目标波形图; 根据每个目标成像点的目标波形图,生成所述合成孔径雷达高度计在成像处理中的目标数据。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人北京无线电测量研究所,其通讯地址为:100854 北京市海淀区永定路50号59楼;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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