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龙图腾网获悉武汉中导光电设备有限公司申请的专利探针缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121414740B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511979200.0，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权探针缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质是由李波;孙杰;杨义禄;张国栋设计研发完成，并于2025-12-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本探针缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质在说明书摘要公布了：一种探针缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质，探针缺陷检测方法包括：获取待检测图像，所述待检测图像中至少包括一个探针组；使用预设图像和待检测图像进行匹配，从待检测图像中提取得到每个探针组的图像区域，所述预设图像为一个探针组的标准图像；针对每个探针组的图像区域，使用连通域非极大值抑制算法对图像区域进行检测得到每个检测框；针对每个检测框，将面积小于预设标准面积且大于预设缺陷面积的检测框检测为缺陷；计算并输出每个缺陷的几何特征、灰度特征及强度特征。通过本申请，针对每个探针组，单独使用连通域非极大值抑制算法，更为适合图像中每个探针组形态各异的情形，相比于现有检测算法检测结果更为准确。

本发明授权探针缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种探针缺陷检测方法，其特征在于，所述探针缺陷检测方法包括： 获取待检测图像，所述待检测图像中至少包括一个探针组，其中，每个探针组包括一根探针及探针两侧紧邻的辅助架； 使用预设图像和待检测图像进行匹配，从待检测图像中提取得到每个探针组的图像区域，所述预设图像为一个探针组的标准图像； 针对每个探针组的图像区域，使用连通域非极大值抑制算法对图像区域进行检测得到每个检测框； 针对每个检测框，将面积小于预设标准面积且大于预设缺陷面积的检测框检测为缺陷； 计算并输出每个缺陷的几何特征、灰度特征及强度特征； 所述针对每个探针组的图像区域，使用连通域非极大值抑制算法对图像区域进行检测得到每个检测框包括： 针对每个探针组的图像区域，从图像区域中检测出多个检测框； 按照预设连通规则，基于多个检测框识别出多个连通域； 针对每个连通域中的所有检测框，按照置信度从高至低的顺序依次选取第一检测框，计算第一检测框与其他检测框之间的交并比，将与第一检测框之间的交并比大于阈值的其他检测框去除； 将去除后得以保留的所有检测框作为最终检测得到的检测框。

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