赫比(上海)家用电器产品有限公司杨涛获国家专利权
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龙图腾网获悉赫比(上海)家用电器产品有限公司申请的专利按键寿命测试方法、自动化测试系统及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121632569B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610165897.6，技术领域涉及：G01M13/00；该发明授权按键寿命测试方法、自动化测试系统及计算机可读存储介质是由杨涛设计研发完成，并于2026-02-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本按键寿命测试方法、自动化测试系统及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种按键寿命测试方法、自动化测试系统及计算机可读存储介质，包括：获取待测试的目标按键，基于预设的按键类型数据库自动匹配并调用对应的目标测试模板；获取目标按键的初始基准参数，并将初始基准参数作为失效判定的基准阈值；响应于测试指令，驱动执行机构以推荐参数对目标按键进行循环按压测试，并在每一次按压测试时同步采集目标按键的多维参数；基于失效判定模型将多维参数与基准阈值及推荐参数进行比对，以进行按键的失效判定和或趋势预判；在满足失效判定的触发条件时，确认目标按键失效，控制执行机构停止测试。如此，针对不同的按键调用不同的目标测试模板来进行测试，通用性高、测试精度高、测试效率高。
本发明授权按键寿命测试方法、自动化测试系统及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种按键寿命测试方法，其特征在于，包括： 获取待测试的目标按键，基于预设的按键类型数据库自动匹配并调用对应的目标测试模板，所述目标测试模板包括目标按键的推荐参数； 基于所述目标测试模板控制快速适配装夹机构中的可调节装夹与快换压头对所述目标按键进行快速固定与适配； 获取所述目标按键的初始基准参数，并将所述初始基准参数作为失效判定的基准阈值； 响应于测试指令，驱动执行机构以所述推荐参数对所述目标按键进行循环按压测试，并在每一次按压测试时同步采集所述目标按键的多维参数； 基于失效判定模型将所述多维参数与所述基准阈值及推荐参数进行比对，以进行按键的失效判定和或趋势预判； 在满足所述失效判定的触发条件时，确认所述目标按键失效，控制所述执行机构停止测试。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人赫比(上海)家用电器产品有限公司，其通讯地址为：201323 上海市浦东新区金闻路79号和77号1、3幢, 2幢1F 2F; 102号1幢1楼A、2楼、3楼A和100号1幢1F2F、2幢1F；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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