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最新专利技术
  • 开关功率器件的测试电路和测试工具
    开关功率器件的测试电路和测试工具_珠海零边界集成电路有限公司_202512011681.2
    本发明公开了一种开关功率器件的测试电路和测试工具，属于开关功率器件测试技术领域。本发明实施例的开关功率器件的测试电路包括：电压测试电路，电流测试电路，损耗测试电路和主控芯片；电压测试电路，用于确定开关功率器件的当前集电极电压；电流测试电路，...
    2026-05-04
  • 一种场效应管老化测试筛选系统及方法
    一种场效应管老化测试筛选系统及方法_广东科信电子有限公司_202610031627.6
    本发明公开了一种场效应管老化测试筛选系统及方法，涉及场效应管测试技术领域，包括微控制模块，依次驱动场效应管模块连接的三组场效应管，由老化检测模块检测处于驱动状态下的场效应管的老化程度，同时在驱动开始时，由开通检测模块进行定时并检测场效应管的...
    2026-05-04
  • 一种在晶圆表面建立减速电场的方法、产品及设备
    一种在晶圆表面建立减速电场的方法、产品及设备_东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司_202610084680.2
    提供一种在晶圆表面建立减速电场的方法、产品及设备。该方法包括：控制电源向待测晶圆施加设定预备电压并维持第一预定时间；控制电源向待测晶圆施加预先确定的使待测晶圆的表面电压达到期望电压所需的目标输出电压，并维持第二设定时间，其中，设定预备电压的...
    2026-05-04
  • 碳化硅晶体管的动态反偏寿命评估方法、装置和设备
    碳化硅晶体管的动态反偏寿命评估方法、装置和设备_中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))_202610086071.0
    本申请涉及一种碳化硅晶体管的动态反偏寿命评估方法、装置和设备。该方法包括：获取目标碳化硅晶体管的基准电学参数；其中，基准电学参数包括基准栅极漏电流；获取目标碳化硅晶体管在动态反偏DRB试验过程中，不同时刻下对应的试验电学参数；根据各试验电学...
    2026-05-04
  • 一种基于机器视觉定位的二极管导电性能测试方法
    一种基于机器视觉定位的二极管导电性能测试方法_赛米微尔半导体(上海)有限公司_202610220519.3
    本发明涉及二极管检测技术领域，尤其涉及一种基于机器视觉定位的二极管导电性能测试方法，包括通过图像检测模块获取二极管组图像，确定排列间距与方向；计算实际排布偏差程度，对比标准阈值以决定是否进行导电性能检测；合格则检测得并联伏安特性曲线，分段后...
    2026-05-04
  • 一种可实现智能温控的高频电源开关老化测试设备
    一种可实现智能温控的高频电源开关老化测试设备_江苏康频电器科技有限公司_202610346091.7
    本发明公开了一种可实现智能温控的高频电源开关老化测试设备，涉及电源测试技术领域，通过设置多层隔板，使箱体的测试腔分为多层，使测试设备可以一次性测试多个高频电源开关，通过风扇从箱体的进气口吸入气流，使气流进入气流通道，根据检测机构根据每层测试...
    2026-05-04
  • 基于VI源通道实现模拟激励与数字通信复用的测试系统及方法
    基于VI源通道实现模拟激励与数字通信复用的测试系统及方法_杭州芯矩科技有限公司_202610382298.X
    本发明公开了一种基于VI源通道实现模拟激励与数字通信复用的测试系统及方法，属于半导体自动测试设备技术领域。旨在解决现有测试系统接口资源紧张、成本高、灵活性不足的问题。技术方案要点：测试机台与被测器件板通过VI源通道连接，测试机台侧将数字通信...
    2026-05-04
  • 一种单粒子损伤定位诊断方法及系统
    一种单粒子损伤定位诊断方法及系统_浙江大学_202512027447.9
    一种单粒子损伤定位诊断方法及系统，涉及半导体器件测试技术领域，所述单粒子损伤定位诊断方法，包括如下步骤：获取半导体待测器件；其中，所述半导体待测器件的正面设置有窗口区域，所述窗口区域无金属覆盖；激光扫描窗口区域中的每个扫描点，获取每个扫描点...
    2026-05-04
  • 太赫兹时域光谱椭偏半导体晶圆电学参数无损检测系统
    太赫兹时域光谱椭偏半导体晶圆电学参数无损检测系统_天津工业大学_202610133991.3
    本发明涉及半导体材料无损检测技术领域，公开了一种太赫兹时域光谱椭偏半导体晶圆电学参数无损检测系统，该系统包括：太赫兹发射模块用于产生宽带太赫兹脉冲；偏振控制模块调控太赫兹脉冲的偏振状态；样品固定模块固定晶圆并调节入射角度；太赫兹接收模块检测...
    2026-05-04
  • 一种集成电路芯片封装测试设备及其测试方法
    一种集成电路芯片封装测试设备及其测试方法_上海宙之盾人工智能科技有限公司_202311716942.5
    本发明涉及芯片封装测试设备技术领域，具体的是公开一种集成电路芯片封装测试设备及其测试方法，本发明包括机体，所述机体包括驱动机构、挤压测试机构和放置机构。本发明通过设置圆盘、槽口块和第一限位杆，由于驱动电机的运行，从而使得旋转块通过槽口块整体...
    2026-05-04
  • 噪声限制电压的检测方法
    噪声限制电压的检测方法_黑泽科技股份有限公司_202411459609.5
    本发明为一种噪声限制电压的检测方法，其应用于一检测电路检测一印刷电路板，本发明的噪声限制电压的检测方法借由利用该检测电路的二探针元件耦接该印刷电路板的线路，依据一噪声限制参数提供一测试电源至该印刷电路板的线路上，而产生对应的一测试讯号。如此...
    2026-05-04
  • 软硬件协同的人工智能芯片的测试方法及相关设备
    软硬件协同的人工智能芯片的测试方法及相关设备_航天科工防御技术研究试验中心_202511722202.1
    本申请提供一种软硬件协同的人工智能芯片的测试方法及相关设备，所述方法包括获取待测试芯片对应的芯片测试需求和场景需求；基于所述芯片测试需求和预先构建的多种模型要素，确定目标测试模型；基于所述场景需求，在预先构建的多种测试试验中确定至少一个目标...
    2026-05-04
  • 电路板的变形补偿方法、装置、电子设备及存储介质
    电路板的变形补偿方法、装置、电子设备及存储介质_南京测源科技有限公司_202511881939.8
    本公开涉及电路板测试技术领域，公开了一种电路板的变形补偿方法、装置、电子设备及存储介质。变形补偿方法包括：采用数据预处理算法，对采集的电路板的原始数据进行预处理，获取电路板的变形类型和预处理修正数据；根据电路板的变形类型和预处理修正数据，构...
    2026-05-04
  • 一种基于ATE的高速DAC转换器测试系统及其测试方法
    一种基于ATE的高速DAC转换器测试系统及其测试方法_上海航天技术基础研究所_202511898082.0
    本发明提供一种基于ATE的高速DAC转换器测试系统及其测试方法，所述系统包括自动测试设备ATE、高速DAC转换器、时钟源、频谱分析仪；还包括器件电源电路、器件时钟电路以及器件信号输出电路；所述自动测试设备ATE包括电源仪表、数字仪表和模拟仪...
    2026-05-04
  • 芯片治具
    芯片治具_冠佳技术股份有限公司_202511986579.8
    本发明公开一种芯片治具，包括固定基座、芯片放置模组、活动压盖、散热模组以及导向定位组件，所述芯片放置模组设置于所述固定基座上，以用于芯片本体放置，所述活动压盖的一端通过铰接组件转动连接于所述固定基座的一侧，所述活动压盖的另一端通过扣接组件与...
    2026-05-04
  • 一种电流式温度传感器芯片的自动化批量测试方法
    一种电流式温度传感器芯片的自动化批量测试方法_中国电子科技集团公司第五十八研究所_202610095370.0
    本发明公开一种电流式温度传感器芯片的自动化批量测试方法，属于自动化测试程序领域。本发明的方法包括：对供电电源和数字万用表进行复位，清除之前的界面设置；设置继电器使供电电源接通待测工位和相应的外围电阻；设置供电电压；设置数字万用表为直流电流挡...
    2026-05-04
  • 基于波形分析的功放电路在线测试方法及系统
    基于波形分析的功放电路在线测试方法及系统_东莞市天逸电子有限公司_202610156268.7
    本申请涉及功放检测技术领域，具体涉及一种基于波形分析的功放电路在线测试方法及系统，该方法包括：获取同批次的多个待测功放电路中每个待测功放电路在多个测试功率下的输出波形数据；基于输出波形以及理想波形，确定每个待测功放电路在每个测试功率下的异常...
    2026-05-04
  • 自动测试设备的软件生态管理方法及其应用
    自动测试设备的软件生态管理方法及其应用_杭州芯矩科技有限公司_202610360745.1
    本发明公开了一种自动测试设备的软件生态管理方法及其应用，属于集成电路测试技术领域。该方法包括：在测试程序编译时自动写入包含上位机及下位机固件信息的版本标识；在程序加载时，系统获取当前运行环境的实际版本并与所述版本标识进行比对；若版本不匹配，...
    2026-05-04
  • 一种芯片内部时钟的批量自动检测方法及系统
    一种芯片内部时钟的批量自动检测方法及系统_奕行智能科技(广州)有限公司_202610369023.2
    本发明公开了一种芯片内部时钟的批量自动检测方法及系统。所述方法包括在芯片内部提供以参考晶振为参考时钟源的时钟频率测量模块，将所有芯片内部时钟引入所述时钟频率测量模块，通过软件调用模块进行频率测试，软件采用动态枚举方式识别所有内部时钟并逐一测...
    2026-05-04
  • WAT参数异常智能溯因方法、系统、设备及存储介质
    WAT参数异常智能溯因方法、系统、设备及存储介质_上海喆塔信息科技有限公司_202610373329.5
    本发明属于半导体制造技术领域，公开了WAT参数异常智能溯因方法、系统、设备及存储介质。该方法包括：从多系统采集WAT测试相关元数据；进行统一标识与时序对齐；基于测试链路状态评估数据可信度；根据可信度约束进行异常检测并生成异常事件；聚合多源证...
    2026-05-04
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