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最新专利技术
  • 基于高能脉冲清洗的电容自愈式短路检测方法及系统
    基于高能脉冲清洗的电容自愈式短路检测方法及系统_珠海华冠电容器股份有限公司_202610308618.7
    本发明公开了基于高能脉冲清洗的电容自愈式短路检测方法及系统，涉及电气测试技术领域，本发明首先采用应力水平低于额定工况的环境模拟激励代替传统的高压电应力测试，避免了检测过程对完好电容器造成的潜在损伤，解决了长期以来检测灵敏度与产品安全性之间的...
    2026-05-13
  • 基于零偏点控制的原子磁强计抗纵向磁场干扰方法与系统
    基于零偏点控制的原子磁强计抗纵向磁场干扰方法与系统_北京航空航天大学_202512042119.6
    基于零偏点控制的原子磁强计抗纵向磁场干扰方法与系统，通过建立包含零偏误差的系统响应模型，并分别将一次谐波与二次谐波响应信号的零偏点设定为x轴与y轴磁场的闭环控制目标，进而通过双回路闭环反馈控制系统的输出响应稳定在零偏点，从而在原理上隔绝纵向...
    2026-05-13
  • 基于双观测量的双光束SERF原子磁强计三轴精密磁补偿方法
    基于双观测量的双光束SERF原子磁强计三轴精密磁补偿方法_北京航空航天大学_202512049880.2
    基于双观测量的双光束SERF原子磁强计三轴精密磁补偿方法，在单一磁场调制下同时生成直流分量与一阶谐波两个观测量：以一阶谐波观测量单峰特性宽磁场范围内实现区间快速定位，确定近零点及其邻域，显著扩大磁补偿点的有效磁场搜索范围；并在补偿区间内快速...
    2026-05-13
  • 一种基于任意偏振态分光超表面级联的单光路原子磁强计
    一种基于任意偏振态分光超表面级联的单光路原子磁强计_北京航空航天大学_202610242292.2
    一种基于任意偏振态分光超表面级联的单光路原子磁强计，通过将激光器出射相干光经过第一级超表面，实现正交椭圆偏振态的光分束，所述分束光中的一束入射玻璃气室，用于抽运与探测，另一束光入射光电探测器，用于监测所述激光器输出光功率，并通过控制电路控制...
    2026-05-13
  • 基于超表面的光学原子磁传感器四通道偏振解耦检测方法
    基于超表面的光学原子磁传感器四通道偏振解耦检测方法_北京航空航天大学_202610242327.2
    基于超表面的光学原子磁传感器四通道偏振解耦检测方法，旨在解决单光束原子磁力仪探测端体积庞大且易受泵浦光椭圆率波动干扰的问题。本发明的技术方案是：利用一枚集成了子孔径伪随机空间复用纳米柱阵列的四通道聚焦超表面器件，替代传统探测光路中的分立元件...
    2026-05-13
  • 基于相位差的磁力仪测量磁场方法、系统、设备及介质
    基于相位差的磁力仪测量磁场方法、系统、设备及介质_国网浙江省电力有限公司电力科学研究院_202610459797.4
    本发明属于磁场测量技术领域，公开了基于相位差的磁力仪测量磁场方法、系统、设备及介质，旨在解决现有多探头磁梯度仪系统复杂度高、成本高昂，且测量稳定性易受频率计性能及同步精度影响的问题。该方法包括：通过第一磁力仪与信号发生装置获取相位差与电压的...
    2026-05-13
  • 一种集成温度监测和自检功能的磁通门传感器的温度补偿方法
    一种集成温度监测和自检功能的磁通门传感器的温度补偿方法_西安华舜测量设备有限责任公司_202610179717.X
    一种集成温度监测和自检功能的磁通门传感器的温度补偿方法，步骤1：温度标定：步骤2、多温度点磁场标定与数据采集：步骤3、内嵌模型与实时补偿：步骤4、输出最终结果：解决传统磁通门传感器系统集成度低、校准复杂、温漂误差大的技术难题，并集成便捷、可...
    2026-05-13
  • 基于稀疏采样与贝叶斯估计的宽场磁场成像方法
    基于稀疏采样与贝叶斯估计的宽场磁场成像方法_太原理工大学_202610089005.9
    本申请提供了一种基于稀疏采样与贝叶斯估计的宽场磁场成像方法，属于磁场成像领域；该方法包括以下步骤：构建NV色心体系测量并记录待测磁场信息；在被测区域的成像视场内，选取少量离散采样点测量其磁场强度数据；构建被测区域内各像素点之间的误差相关性函...
    2026-05-13
  • 一种高温超导转子磁体动态交流损耗分析方法
    一种高温超导转子磁体动态交流损耗分析方法_中国科学院电工研究所_202610255411.8
    本发明公开一种高温超导转子磁体动态交流损耗分析方法，以励磁电流时间序列的离散采样值作为唯一输入量，损耗能量以准静态电磁能量耗散为定义依据。每个采样周期内计算电流增量并判定方向标记，发生方向反向时更新转折点采样序号集合与转折点电流值序列，构造...
    2026-05-13
  • 一种双层磁共振射频接收线圈阵列
    一种双层磁共振射频接收线圈阵列_中国科学院生物物理研究所_202610228635.X
    本发明公开了一种双层磁共振射频接收线圈阵列，属于磁共振成像技术领域。该线圈阵列解决了现有单层接收线圈因无法紧密贴合人体导致的信号衰减问题，以及单层接收线圈中插入无线线圈存在的安全隐患。其采用内外双层线圈结构，内层线圈可紧密贴合不同体型的受试...
    2026-05-13
  • 磁共振成像系统、高频功率分配单元及梯度放大器
    磁共振成像系统、高频功率分配单元及梯度放大器_通用电气精准医疗有限责任公司_202610211817.6
    本发明涉及磁共振成像系统、高频功率分配单元及梯度放大器。本文中讨论了功率系统及电路，其用于在磁共振成像(MRI)系统中产生梯度磁场。实施例提供了磁共振成像系统、高频功率分配单元及梯度放大器，实施例可包括多个梯度放大器的使用，该多个梯度放大器...
    2026-05-13
  • 磁共振化学交换饱和转移成像方法、装置、设备、产品及存储介质
    磁共振化学交换饱和转移成像方法、装置、设备、产品及存储介质_深圳先进技术研究院_202610450990.1
    本申请适用于磁共振化学交换饱和转移成像技术领域，提供了一种磁共振化学交换饱和转移成像方法、装置、设备、产品及存储介质，本申请采用梯度回波序列采集饱和的水分子信号，并将采集的水分子信号存入K空间，并在采集过程中引入波控编码，并基于K空间的水分...
    2026-05-13
  • 一种磁共振超声调控兼容的电磁干扰校正方法及装置
    一种磁共振超声调控兼容的电磁干扰校正方法及装置_上海睿楫医疗科技有限公司_202610207493.9
    本发明公开了一种磁共振超声调控兼容的电磁干扰校正方法及装置，本发明通过超声耦合设备提取纯净超声信号作为参考，解决了EMI探头无法采集超声EMI的难题；同时，在同一TR内采集校准信号与磁共振混合信号，并基于校准信号来构建出多通道协方差矩阵，然...
    2026-05-13
  • 用于射频功放的电容放电方法、系统及磁共振设备
    用于射频功放的电容放电方法、系统及磁共振设备_成都创世芯通医疗科技有限公司_202512045428.9
    本申请公开了一种用于射频功放的电容放电方法、系统及磁共振设备，涉及电容放电方法技术领域。本申请提供一种用于射频功放的电容放电方法，包括：获取储能电容在预设时间段内的电压序列和电流序列，并提取电压特征和电流特征；根据电压特征和电流特征，预测储...
    2026-05-13
  • 避雷器泄露电流监测仪的检测电路及检测方法
    避雷器泄露电流监测仪的检测电路及检测方法_广东电网有限责任公司揭阳供电局_202610048551.8
    本申请提供一种避雷器泄露电流监测仪的检测电路及检测方法，涉及避雷器技术领域。检测电路包括位于避雷器泄露电流监测仪内的第一磁控干簧管、第二磁控干簧管和第三电阻；第一磁控干簧管的一端与避雷器连接，另一端接地，且与稳压管和全桥整流回路并联连接；第...
    2026-05-13
  • 对WAT自动测试电容参数进行在线校准的测试方法
    对WAT自动测试电容参数进行在线校准的测试方法_上海华力集成电路制造有限公司_202610077652.8
    本发明公开了一种对WAT自动测试电容参数进行在线校准的测试方法，包括：进行获得机台寄生参数的步骤，包括：提供和需校准待测试电容器件类型相同的校准电容器件；校准电容器件具有预先获取的第一真实电容和电阻；对校准电容器件进行WAT自动电容测试获得...
    2026-05-13
  • 电流探头校准装置及校准方法
    电流探头校准装置及校准方法_上海航天技术基础研究所_202610154405.3
    本发明涉及电流探头校准装置及校准方法，装置包括网络分析仪、校准夹具、非导电支架和适配器；非导电支架用于固定校准夹具；校准夹具的输入端连接网络分析仪的端口PORT1，输出端连接负载；待校准电流探头夹在校准夹具的中心导线上；适配器用于连接待校准...
    2026-05-13
  • 一种定标有效效率修正因子方法
    一种定标有效效率修正因子方法_中国计量科学研究院_202610220785.6
    本发明提供了一种定标有效效率修正因子方法，属于同轴微波功率基准技术领域，包括：通过毫伏表采集功率传感器，射频功率下的射频瞬态热电势变化曲线和直流功率下的直流瞬态热电势变化曲线，将射频瞬态热电势变化曲线中的射频稳态温升电势作为稳态值，将直流瞬...
    2026-05-13
  • 一种集成电路测试设备稳定性分析方法及系统
    一种集成电路测试设备稳定性分析方法及系统_弘润半导体(苏州)有限公司_202610458199.5
    本发明公开了一种集成电路测试设备稳定性分析方法及系统，涉及电路测试技术领域，包括，对集成电路功能测试过程中形成的测试通道执行通道置换调度，记录通道置换调度前后的功能测试响应变化，对功能测试响应变化进行差异整理，生成通道置换差异序列；依据通道...
    2026-05-13
  • 一种MEMS探针性能测试方法及系统
    一种MEMS探针性能测试方法及系统_上海道格特科技有限公司_202610071885.7
    本发明提供一种MEMS探针性能测试方法及系统。方法包括：行程‑压力关系测试，通过标定初始接触零点，控制压力传感器探头以固定步长下压探针针尖，采集不同行程下的针压数据并生成曲线，根据特定区间的曲线斜率判定探针力学性能；载流‑压力变化测试，在固...
    2026-05-13
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