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最新专利技术
  • 芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质
    芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质_航天科工防御技术研究试验中心_202610059517.0
    本申请提供一种芯片测试方法，包括：根据预设的检测数据对芯片进行图像采集，得到第一芯片图像。根据第一芯片图像控制至少2个探针与芯片接触，响应于至少2个探针检测到的压力达到预设的压力阈值，对芯片与至少2个探针进行图像采集，得到第二芯片图像。对第...
    2026-05-14
  • MCU电特性自动化测试系统
    MCU电特性自动化测试系统_上海华虹集成电路有限责任公司_202610040192.1
    本发明公开了一种MCU电特性自动化测试系统，包括：上位机软件与硬件测试板卡；所述上位机软件用于建立待测芯片模拟参数的测试激励，控制测试仪器设备与所述硬件测试板卡，并通过通信接口与待测芯片连接以进行数据交互，自动完成测试流程控制、测试数据分析...
    2026-05-14
  • 一种测试装置
    一种测试装置_天芯互联科技有限公司_202610012530.0
    本申请公开了一种测试装置，其中，所述测试装置包括：测试机，所述测试机上形成有多组测试资源；资源调节板，安装于所述测试机表面，所述资源调节板上设置有多个开槽，所述开槽对应所述测试机上的多组测试资源设置；转接模块，包括多个，分别安装于所述资源调...
    2026-05-14
  • 一种电子板卡测试序列生成方法及系统
    一种电子板卡测试序列生成方法及系统_安徽橡豫智能科技有限公司_202511993338.6
    本发明公开了一种电子板卡测试序列生成方法及系统，属于电子产品自动化测试(ATE)技术领域。该方法先后通过多模态工程数据接入与图谱初始化、基于加权特征融合的语义推断与冲突仲裁对节点进行特征提取、通过加权推断和冲突检测更新图谱的连接关系、基于物...
    2026-05-14
  • 一种获取芯片的静态功耗的处理方法
    一种获取芯片的静态功耗的处理方法_沐曦集成电路(上海)股份有限公司_202411540201.0
    本申请涉及芯片的测试技术领域，特别是涉及一种获取芯片的静态功耗的处理方法。该方法包括：S100，获取使用自动化测试设备ATE得到的目标芯片的测试结果R；S200，获取目标芯片对应的电流系数a；S300，获取与目标温度T0对应的等价温度Tc；...
    2026-05-14
  • 一种高灵敏度异质结光谱探测系统及其数据采集方法
    一种高灵敏度异质结光谱探测系统及其数据采集方法_哈尔滨理工大学_202610148181.5
    本申请涉及半导体器件光电性能测试技术领域，公开了一种高灵敏度异质结光谱探测系统及其数据采集方法，该系统包括偏压控制、信号采集、数字处理及上位机处理单元。数字处理单元采用梯形迟滞扫描策略，利用瞬态屏蔽窗口与不对称驻留时间诱导电荷迟滞；通过并行...
    2026-05-14
  • 一种基于SVPWM控制的IGBT模块无功老化测试方法
    一种基于SVPWM控制的IGBT模块无功老化测试方法_中国测试技术研究院_202610478413.3
    本发明属于电力电子器件可靠性测试技术领域，具体涉及一种基于SVPWM控制的IGBT模块无功老化测试方法，旨在解决IGBT老化测试中电流精度偏差、能耗高及结温监测实时性不足的问题。该方法包括：构建基于H桥拓扑的无功循环回路，通过SVPWM闭环...
    2026-05-14
  • 一种实现人体安全测量晶体电光系数的方法及装置
    一种实现人体安全测量晶体电光系数的方法及装置_山东大学_202610477020.0
    本发明公开了一种实现人体安全测量晶体电光系数的方法及装置，属于光电测量技术领域，其方法包括：构建晶体电光系数测量光路，包括沿光路传播方向依次设置的波长可调谐光源、起偏器、真零级半波片、待测电光晶体、检偏器和功率计；将待测电光晶体与可调直流低...
    2026-05-14
  • 一种氮化镓功率器件封装寄生参数退化监测方法
    一种氮化镓功率器件封装寄生参数退化监测方法_中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))_202610458089.9
    本发明提供了一种氮化镓功率器件封装寄生参数退化监测方法，建立氮化镓功率器件在高频开关条件下包含封装寄生参数的高频RLC振荡模型；判断开关瞬态电流变化率测量波形相比开关瞬态电流变化率基准波形，振荡幅值是否下降；确定封装寄生参数与开关瞬态电流变...
    2026-05-14
  • 半导体器件测试方法及装置
    半导体器件测试方法及装置_京灿光电(广东)有限公司_202610363054.7
    本公开提供了一种半导体器件测试方法及装置。所述方法包括：获取测试数据，所述测试数据包括多个测试器件的数据，每个所述测试器件的数据包括位置信息和各项测试参数，所述位置信息包括转移所述测试器件使用的机械臂、所述机械臂转移所述测试器件时使用的工位...
    2026-05-14
  • 一种半导体老化测试方法及系统
    一种半导体老化测试方法及系统_杭州芯云海半导体有限公司_202610253594.X
    本申请涉及半导体测试技术领域，公开了一种半导体元件老化测试方法及系统，方法应用于包含老化测试板、测试工位、自动上下料机构的老化测试系统。该方法包括：将装载有待测元件的老化测试板完成上料与测试工位对接，启动老化测试流程并实时采集待测元件的测试...
    2026-05-14
  • 无刷电机的MOS管损坏检测方法及相关装置
    无刷电机的MOS管损坏检测方法及相关装置_深圳市其利天下技术开发有限公司_202610232077.4
    本申请涉及异常检测技术领域，提供一种无刷电机的MOS管损坏检测方法及相关装置，所述方法应用于三相无刷直流电机系统，所述无三相无刷直流电机系统不包括转子位置传感器，所述方法包括：获取所述三相无刷直流电机系统的零点，以及获取三相无刷直流电机系统...
    2026-05-14
  • AI辅助的高频宽带电路寄生效应剔除方法及装置
    AI辅助的高频宽带电路寄生效应剔除方法及装置_南京大学_202610204241.0
    本申请提供一种AI辅助的高频宽带电路寄生效应剔除方法及装置，所述方法包括：获取目标器件的第一测量参数、第二测量参数以及工作条件参数，第二测量参数为目标器件在开路、短路及直通结构的测量参数；基于第二测量参数，采用去嵌入算法对第一测量参数进行初...
    2026-05-14
  • 一种氮化镓器件动态导通阈值电压测试电路与方法
    一种氮化镓器件动态导通阈值电压测试电路与方法_电子科技大学_202610197851.2
    本发明属于功率器件测试技术领域，具体是涉及一种氮化镓器件动态导通阈值电压测试电路与方法。解决现有GaN器件动态阈值电压表征中存在的应力切换实时性差、参数提取精度低、以及难以覆盖多种工况等问题。本发明的电路包括高压源电路，用于提供可调的高压偏...
    2026-05-14
  • 一种压接功率器件失效点定位方法及系统
    一种压接功率器件失效点定位方法及系统_国网电力科学研究院有限公司_202610136149.5
    本发明提供一种压接功率器件失效点定位方法及系统，涉及半导体器件测试技术领域。本发明首先通过动静态测试机台或万用表定位压接功率器件内的失效子单元，而后通过漏电值测量定位失效子单元内的失效芯片，再通过扩散电阻测量、热点定位和超声波定位三种方式实...
    2026-05-14
  • 一种适用于三相共基板功率模块的双脉冲测试方法
    一种适用于三相共基板功率模块的双脉冲测试方法_浙江伊控动力系统有限公司_202610110877.9
    本发明公开了一种适用于三相共基板功率模块的双脉冲测试方法，包括步骤S1：进行上桥发波的双脉冲测试，设公共部分杂散电感为，每相各自的杂散电感相同，均为，具体实施为：步骤S1.1：计算单相发波时的杂散电感；步骤S1.2：计算三相并联发波时的杂散...
    2026-05-14
  • FRD器件的封装检测方法及系统
    FRD器件的封装检测方法及系统_滁州华瑞微电子科技有限公司_202610083891.4
    本申请提供一种FRD器件的封装检测方法及系统。该方法通过获取待测FRD封装器件的封装结构信息，并基于封装结构信息，建立FRD封装器件的封装寄生网络模型，然后，在FRD封装器件的外部引脚处施加测试激励信号，以使多个FRD芯片在封装状态下产生与...
    2026-05-14
  • 一种测试系统及测试方法
    一种测试系统及测试方法_北京荣耀终端有限公司_202610499796.2
    本申请提供了一种测试系统及测试方法，涉及电子设备测试技术领域。该测试系统包括：测试电压发生器，用于向第一电子设备施加测试电压，确定待测位置，待测位置产生有烧蚀痕迹；谐波检测器，用于在对第二电子设备中与第一电子设备的待测位置对应的位置依次进行...
    2026-05-14
  • 一种输电电缆护套绝缘在线状态监控方法
    一种输电电缆护套绝缘在线状态监控方法_国网山东省电力公司电力科学研究院_202610483899.X
    本申请公开了一种输电电缆护套绝缘在线状态监控方法，主要涉及在线状态监控技术领域，用以解决现有方案存在单参数监测难以反映绝缘劣化的多场耦合机理、红外测温受环境辐射与表面发射率影响、离线检测需停电操作，响应滞后的问题。包括：以图结构状态流为输入...
    2026-05-14
  • 一种光电管高压激发式日盲紫外放电检测方法及系统
    一种光电管高压激发式日盲紫外放电检测方法及系统_杭州众电智能技术有限公司_202610478106.5
    本发明涉及光电管检测技术领域，特别涉及一种光电管高压激发式日盲紫外放电检测方法及系统，包括：获取高速跨阻采样电路实时采集的原始电压序列数据；根据原始电压序列数据定位每一个疑似脉冲的特征点，提取脉冲波形特征；根据下降沿衰减特性获取每一个疑似脉...
    2026-05-14
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