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  • 本发明公开了一种直流电能表量程提升方法,属于电气测量元件散热技术领域。该方法针对现有锰铜分流器在大电流工作时温度升高、精度下降、量程不足的问题,通过计算出在允许温升下的最大电流与散热需求的关系,设计散热装置,进而实现能测量比锰铜分流器额度电...
  • 本发明提出了一种网络分析仪用外置直流偏置装置及其测试方法,涉及直流偏置技术领域,所述网络分析仪用外置直流偏置装置包括测试设备、被测器件和外置直流偏置电路;所述外置直流偏置电路设置于测试设备和被测器件之间;通过外置直流偏置电路对测试设备和被测...
  • 本发明公开了一种高温超导量子电压标准系统及调控方法,涉及量子电压技术领域。包括液氮低温罐、测量杆、法布里‑珀罗谐振腔、调节机构、微波信号源、测量单元和上位机,液氮低温罐提供77K的低温工作环境;测量杆一端承载法布里‑珀罗谐振腔并放置在液氮低...
  • 本发明涉及电子测量技术领域,公开了基于电阻串联与动态组合的可编程电阻装置及控制方法,包括:电阻阵列模块、精度补偿模块、开关切换模块、控制与计算模块及外部接口模块;其中,电阻阵列模块设有挡位标称值呈预设倍率关系串联而成的若干挡位;精度补偿模块...
  • 提供了一种用于车辆的电池的监测电路的阻抗平衡的方法。该方法包括计算监测电路的多个迹线的多个迹线电阻值,监测电路将电池电连接到电池单元监测单元,电池包括多个电池单元。该方法进一步包括确定该多个迹线电阻值中的最大迹线电阻值。该方法进一步包括计算...
  • 本申请公开探针卡的基板调节机构、调节基板的方法及探针卡组件。探针卡的基板调节机构包括连接组件、套管、定位件、芯柱、芯柱调节件和锁紧件。套管连接组件用于与探针卡底座和套管连接,包括套管防松件。套管朝远离探针卡底座的方向运动,以带动定位件抵紧基...
  • 本申请涉及芯片测试技术领域,尤其是涉及一种探针卡及其组装方法,其中,探针卡包括印制电路板、固定环和多个弹性探针。采用弹性探针代替传统的悬臂式探针,无需再进行针尖折弯工序和针尖研磨工序。印制电路板和固定环的组装无需再使用树脂,节省了树脂固化时...
  • 本申请涉及印刷电路板连接器测试技术领域,尤其是涉及一种用于同轴印刷电路板连接器的无损检测探针。该无损检测探针包括:外导体组件、接地接触组件、中心导体组件和绝缘介质组件。其中,外导体组件包括第一主体件和第二主体件,第二主体件一端嵌入第一主体件...
  • 本发明公开了一种四探针电阻测试装置,涉及电阻测试技术领域,包括操作台和位于操作台上的主机,所述主机的外壁固定连接有连接线,所述连接线的一端固定连接有探头、探针、移动机构、定位机构。本发明通过设置移动机构和定位机构,转动转动块,活动框向下位移...
  • 本发明涉及线束插头测试技术领域,具体涉及一种滑块线束产品测试机,包括机架、安装于机架的工装平台、激光打标器,工装平台的顶端分别安装有仿形插座治具与仿形插头治具,激光打标器位于仿形插座治具的上方,仿形插座治具的一侧设置有插座检测组件,仿形插头...
  • 本发明涉及电气测量技术领域,且公开了一种测量导体直流电阻的端面夹具,包括夹具外壳,其外部周向装设旋接筒,内部旋接调节螺栓,调节螺栓位于夹具外壳内部的一端套设套座,套座外部装设滚珠轴承及夹头,套座外部两侧连接装配筒,内部插设插销。导电板插设于...
  • 本发明涉及一种特高压电压互感器校验用转接装置,属于特高压电压互感器校验技术领域,包括转接组件,转接组件底端设置有辅助攀登组件,辅助攀登组件包括支撑柱,支撑柱前端顶部铰接有活动板,支撑柱前端底部贯穿开设有伸缩槽,伸缩槽内安装有可向活动板一侧伸...
  • 本发明涉及二次电源测试技术领域,具体涉及应用于二次电源老化测试的专用治具及带有其的测试装置,包括支撑座、浮动座、限位座、治具电路板和多个母端子,浮动座活动地安装在支撑座和限位座之间,多个母端子固定于治具电路板,母端子形成多个瓣体,多个瓣体围...
  • 本发明提供了一种芯片测试座、测试装置和方法,涉及半导体生产技术领域,包括:开设有放置槽的测试基座、与测试基座一端铰接的压板、安装在放置槽内的固定板、与固定板固定连接的弹性机构和固定在压板上的压条机构;放置槽用于放置待测芯片,固定板在放置槽内...
  • 本发明涉及芯片功能测试技术领域,具体为用于液冷高低温芯片的旋转式测试夹具,包括测试机构,所述测试机构包括旋压组件、外壳组件、供热组件、供冷组件、夹具组件,所述夹具组件位于所述旋压组件下方,所述供热组件以及所述供冷组件位于所述夹具组件以及所述...
  • 本发明涉及一种绝缘杆绳环状检测夹及其使用方法,属于电流检测设备技术领域。技术方案是:包括机体、固定夹和活动夹,所述固定夹设置于机体顶部,所述活动夹可开启设置于固定夹顶侧,所述固定夹和活动夹组成可分离张开的钳状罩体,所述钳状罩体内部设置有铁芯...
  • 本发明公开一种用于矿用接线端子快速连接的装置,包括探针座、封闭件和定位机构,所述探针座的端部沿轴向方向设置多个探针,所述探针的第一端凸出于所述探针座的端部,所述探针的第二端与引出线缆相连接,所述探针座的周向方向上设置外螺纹,所述封闭件与所述...
  • 本发明提供了一种测试治具及多项目测试方法。测试治具包括基座组件以及测试组件。基座组件具有适于放置电子设备的安装面。测试组件包括第一连接端以及多个第二连接端,第一连接端用于连接电子设备,各第二连接端均用于连接测试仪器。沿平行于安装面的第一方向...
  • 本申请涉及一种测试夹具以及器件测试方法。测试夹具包括支撑基板、框架、电连接结构以及固定组件。支撑基板具有相对设置的第一面与第二面,第一面用于放置被测器件。框架包括绝缘固定部,绝缘固定部位于支撑基板的靠近第一面的一侧。电连接结构,包括可移动探...
  • 本公开提供一种用于芯片测试的探针卡、测试系统、方法、设备及介质。该探针卡包括:电路板;转接基板,与电路板连接;探针部,配置为放置待测单元,待测单元包括晶圆上的至少一个待测芯片裸晶,待测芯片裸晶包括物理层且物理层包括数据发送端和数据接收端;第...
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